Hot Electron에 의한 NMOSFET의 드레인 출력저항 특성 ( The Characteristics of NMOSFET Drain Output Resistance Due to Hot Electron )

김미란 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1992 .11

Hot Carrier Burn-In을 사용한 NMOSFET Lifetime 향상 ( Improvement of NMOSFET Lifetime Using Hot Carrier Burn-In )

이상기 ,  황현상 ,  이동훈 외 3명

대한전자공학회 워크샵

1996 .01

Hot electron 효과로 노쇠화된 NMOSFET의 드레인 출력저항 특성 ( The Characteristics of Degraded Drain Output Resistance of NMOSFET due to Hot Electron Effects )

김미란 ,  박종태

전자공학회논문지-A

1993 .09

온도 증가에 따른 nMOSFET의 Hot carrier effect 변화 ( Hot carrier effect of nMOSFET's at elevated temperatures )

원명규 ,  김도형 ,  안철

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

온도 증가에 따른 nMOSFET의 Hot carrier effect 변화

원명규 ,  김도형 ,  안철

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

Monte Carlo simulation에 의한 nMOSFET의 hot electron현상해석

민병혁 ,  한민구

대한전기학회 학술대회 논문집

1987 .11

LDD NMOSFET에서 Hot Carrier 열화시 Device Lifetime에 관한 연구

고정욱 ,  김재영 ,  강문상 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

E-PLOT : A New Method Characterizing the Substrate current and the Saturation Voltage of Fresh and Hot-Electron Stressed nMOSFET

Shi Ho Kim ,  Kwy Ro Lee

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

0.1㎛ 레벨 NMOSFET의 Hot Carrier현상과 소자 열화 ( Hot Carrier Induced Device Degradation of 0.1㎛ NMOSFET )

이재기 ,  홍성희

한국통신학회 전문대학 논문지

1997 .01

NMOSFET에서 핫-캐리어 내성의 소자 개발

김현호 ,  김현기 ,  우경환 외 3명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

LDD NMOSFET에서 Hot Carrier 열화시 Device Lifetime에 관한 연구

고정욱 ,  김재영 ,  강문상 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

A Study on the Hot Carrier Induced High Frequency Performance Degradation in NMOSFET`s

김동욱 ,  김천수 ,  유현규 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

Hot electron에 의한 RF-nMOSFET의 DC 및 RF 특성 열화 모델 ( Hot electron induced degradation model of the DC and RF characteristics of RF-nMOSFET )

이병진 ,  홍성희 ,  유종근 외 2명

전자공학회논문지-D

1998 .11

Temperature Dependence of Electron Mobility in Uniaxial Strained nMOSFETs

Wookyung Sun ,  Hyungsoon Shin

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2014 .04

긴 채널 NMOSFET에 대한 통합 전류-전압 ( A Unified Current-Voltage Model for Long Channel NMOSFET's )

박찬광 ,  이창열 ,  이귀로 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1990 .01

고전압 및 저전압 NMOSFET 소자의 Hot Carrier 열화 특성

박병석 ,  나민기 ,  한인식 외 7명

대한전자공학회 학술대회

2008 .11

δ - 도핑 NMOSFET 채널 내에서의 양자화 효과

문현기 ,  김현중 ,  이찬호

대한전자공학회 학술대회

2001 .06

소자 분야 - Hot carrier에 의한 RF NMOSFET의 성능저하에 관한 연구

김동욱 ,  유종근 ,  유현규 외 1명

전자공학회논문지-D

1998 .10

Hot carrier 효과에 의한 단채널 금속 게이트/High-k 절연막 nMOSFET의 고주파 특성 열화

사공현철 ,  이경택 ,  최길복 외 7명

대한전자공학회 학술대회

2009 .07

NMOSFET에서 LDD 영역의 전자 이동도 해석 ( Analysis of Electron Mobility in LDD Region of NMOSFET )

이상기 ,  황현상 ,  안재경 외 4명

전자공학회논문지-A

1996 .10