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Hot Electron에 의한 NMOSFET의 드레인 출력저항 특성 ( The Characteristics of NMOSFET Drain Output Resistance Due to Hot Electron )
대한전자공학회 학술대회
1992 .11
Hot electron 효과로 노쇠화된 NMOSFET의 드레인 출력저항 특성 ( The Characteristics of Degraded Drain Output Resistance of NMOSFET due to Hot Electron Effects )
전자공학회논문지-A
1993 .09
Monte Carlo simulation에 의한 nMOSFET의 hot electron현상해석
대한전기학회 학술대회 논문집
1987 .11
Anomalous Temperature Dependence of nMOSFET Lifetime under Hot Electron Stress
대한전자공학회 학술대회
1994 .01
긴 채널 NMOSFET에 대한 통합 전류-전압 ( A Unified Current-Voltage Model for Long Channel NMOSFET's )
대한전자공학회 학술대회
1990 .01
온도 증가에 따른 nMOSFET의 Hot carrier effect 변화 ( Hot carrier effect of nMOSFET's at elevated temperatures )
대한전자공학회 학술대회
1998 .07
온도 증가에 따른 nMOSFET의 Hot carrier effect 변화
대한전자공학회 학술대회
1998 .06
고전압 및 저전압 NMOSFET 소자의 Hot Carrier 열화 특성
대한전자공학회 학술대회
2008 .11
Computation of substrate currents using the Monte Carlo Method in nMOSFET`s
대한전자공학회 기타 간행물
1992 .01
0.1㎛ 레벨 NMOSFET의 Hot Carrier현상과 소자 열화 ( Hot Carrier Induced Device Degradation of 0.1㎛ NMOSFET )
한국통신학회 전문대학 논문지
1997 .01
NMOSFET에서 핫-캐리어 내성의 소자 개발
대한전자공학회 학술대회
2002 .06
A Study on the Hot Carrier Induced High Frequency Performance Degradation in NMOSFET`s
대한전자공학회 학술대회
1998 .01
Hot electron에 의한 RF-nMOSFET의 DC 및 RF 특성 열화 모델 ( Hot electron induced degradation model of the DC and RF characteristics of RF-nMOSFET )
전자공학회논문지-D
1998 .11
Hot Carrier Burn-In을 사용한 NMOSFET Lifetime 향상 ( Improvement of NMOSFET Lifetime Using Hot Carrier Burn-In )
대한전자공학회 워크샵
1996 .01
A High Voltage NMOSFET Fabricated by using a Standard CMOS Logic Process as a Pixel-driving Transistor for the OLED on the Silicon Substrate
Journal of information display
2004 .01
δ - 도핑 NMOSFET 채널 내에서의 양자화 효과
대한전자공학회 학술대회
2001 .06
소자 분야 - Hot carrier에 의한 RF NMOSFET의 성능저하에 관한 연구
전자공학회논문지-D
1998 .10
Hot carrier 효과에 의한 단채널 금속 게이트/High-k 절연막 nMOSFET의 고주파 특성 열화
대한전자공학회 학술대회
2009 .07
NMOSFET에서 LDD 영역의 전자 이동도 해석 ( Analysis of Electron Mobility in LDD Region of NMOSFET )
전자공학회논문지-A
1996 .10
RTO 성장과 0.15mm NMOSFET에의 적용 ( Application of Ultra-Thin Rapid Thermal Oxide to 0.15mm NMOSFET )
대한전자공학회 워크샵
1996 .01
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