LDD NMOSFET에서 Hot Carrier 열화시 Device Lifetime에 관한 연구

고정욱 ,  김재영 ,  강문상 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

LDD NMOSFET 에서의 Hot-Carrier Trap에 의한 Series Resistance의 증가에 관한 연구 ( A Study on The Increase of Series Resistance Due To Hot-carrier Trap in LDD NMOSFET )

신덕준 ,  김재영 ,  강문상 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

LDD NMOSFET에서의 Hot-Carrier Trap에 의한 Series Resistance의 증가에 관한 연구

신덕준 ,  김재영 ,  강문상 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

LDD NMOSFET의 Hot-Carrier로 인한 전류열화 특성의 Analytic Model

구정석 ,  김영관 ,  권호엽 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

NMOSFET에서 LDD 영역의 전자 이동도 해석 ( Analysis of Electron Mobility in LDD Region of NMOSFET )

이상기 ,  황현상 ,  안재경 외 4명

전자공학회논문지-A

1996 .10

Hot Carrier Burn-In을 사용한 NMOSFET Lifetime 향상 ( Improvement of NMOSFET Lifetime Using Hot Carrier Burn-In )

이상기 ,  황현상 ,  이동훈 외 3명

대한전자공학회 워크샵

1996 .01

서브마이크론 LDD NMOSFET의 핫캐리어 열화에 의한 유효채널길이의 증가 ( The Increase of the Effective Channel Length by the Hot-Carrier Degradation in Submicron LDD NMOSFETs )

이준표 ,  김재영 ,  강문상 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

서브마이크론 LDD NMOSFET의 핫캐리어 열화에 의한 유효채널길이의 증가

이준표 ,  김재영 ,  강문상 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

Time Dependent Hot-Carrier-Induced Interface State Generation in Deep Submicron LDD NMOSFETs

김시호 ,  이귀로

대한전자공학회 학술대회

1995 .01

핫 캐리어 신뢰성 개선을 위한 새로운 LDD 구조에 대한 연구

장의구 ,  서용진 ,  김상용 외 1명

전기전자재료학회논문지

2002 .01

온도 증가에 따른 nMOSFET의 Hot carrier effect 변화 ( Hot carrier effect of nMOSFET's at elevated temperatures )

원명규 ,  김도형 ,  안철

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

온도 증가에 따른 nMOSFET의 Hot carrier effect 변화

원명규 ,  김도형 ,  안철

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

0.1㎛ 레벨 NMOSFET의 Hot Carrier현상과 소자 열화 ( Hot Carrier Induced Device Degradation of 0.1㎛ NMOSFET )

이재기 ,  홍성희

한국통신학회 전문대학 논문지

1997 .01

Hot Electron에 의한 LDD NMOS의 노쇠화 메커니즘 ( Hot Electron Induced the Degradation Mechanism of Ldd NMOSFET )

김덕기 ,  박현진 ,  김용택 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

LDD-nMOSFET의 핫 캐리어 열화 억제를 위한 표면 이온주입 효과에 대한 연구

서용진 ,  안태현 ,  김상용 외 3명

대한전기학회 학술대회 논문집

1998 .11

Carrier 의 속도포화에 따른 LDD NMOSFET의 Saturated Transconductance 감소 기구 ( Degradation Mechanism of Saturated Transconductance in LDD NMOSFET due to the Velocity Saturation of the Carrier )

이명복 ,  이정일 ,  강광남

대한전자공학회 학술대회

1989 .01

Hot Electron에 의한 LDD NMOS의 노쇠화 메카니즘

김덕기 ,  박현진 ,  김용택 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

A Study on the Hot Carrier Induced High Frequency Performance Degradation in NMOSFET`s

김동욱 ,  김천수 ,  유현규 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

NMOSFET에서 핫-캐리어 내성의 소자 개발

김현호 ,  김현기 ,  우경환 외 3명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

Retrograde Boron 채널 LDD 구조의 0.1㎛ nMOSFET 소자 제작

최영진 ,  박병국 ,  이종덕

대한전자공학회 학술대회

1995 .12