플래시 EEPROM 셀에서 ONON ( oxide-nitride-oxide-nitride ) Inter-Poly 유전체막의 신뢰성 연구 ( Study of the Reliability Characteristics of the ONON ( oxide-nitride-oxide-nitride ) Inter-Poly Dielectrics in the Flash EEPROM cells )

신봉조 ,  박근형

전자공학회논문지-D

1999 .10

ONO Ruptures Caused by ONO Implantation in a SONOS Non-Volatile Memory Device

Sang-Yong Kim ,  Il-Soo Kim

Transactions on Electrical and Electronic Materials

2011 .01

재산화된 질화 산화막의 전하 포획 특성 연구 ( A Study on the Charge Trapping Properties of ONO ( Oxide Nitride Oxide ) Dielectric Film )

이종순 ,  윤석범 ,  박광균 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

급속열처리 방법을 이용한 ONO Interpoly 절연체의 전기적 특성 ( Electrical Properties of ONO Dielectrics Grown by Rapid Thermal Processing )

조성천 ,  여협구 ,  양광선 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

Oxide-Nitride-Oxide막을 게이트 절연막으로 사용하여 제조한 다결정실리콘 박막트랜지스터의 특성

이인찬 ,  마대영

전기전자재료학회논문지

2003 .01

The Influence of Ion Implantation Damage on the Off-State Leakage Characteristics of n-MOSDETs with Ultrathin Oxide, Nitrided-Oxide and Re-Oxidized Nitrided-Oxide Gate Dielectrics

S. Fleische ,  P. T. Lai ,  Y. C. Cheng

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

CHARACTERISTICS OF STACKED OXIDE-NITRIDE-OXIDE FILMS FOR HIGH DENSITY DRAM CELL CAPACITOR

S. H. Choi ,  J. S. Choi ,  S. T. Kim 외 2명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

ONOS 의 분산 컨트롤러 구조 분석

장석원 ,  서동은 ,  한솔 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

2016 .01

ONO 유전박막 캐패시터의 전기적 특성 및 결함분석 ( Analysis of Defects and Electrical Characteristics of ONO Dielectric Film Capacitors )

곽성관 ,  정회환 ,  정관수

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

Wet 게이트 산화막과 Nitride 산화막 소자의 특성에 관한 연구

이용희 ,  최영규 ,  류기한 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1999 .06

ONO 박막을 게이트 절연막으로 사용한 MOSFET의 전기적 특성 ( Electrical Characteristics of MOSFET with Reoxidized Nitrided Oxide Gate-Dielectrics )

조성천 ,  양광선 ,  박훈수 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1991 .01

Single-Poly EEPROM의 프로그램 특성 ( Programming Characteristics of Single-Poly EEPROM )

한재천 ,  나기열 ,  이성철 외 1명

전자공학회논문지-A

1996 .02

Flash EEPROM Cell의 특성 분석에 관한 연구 ( A Study on Characteristic Analysis of Flash EEPROM Cell )

신윤권 ,  조상복 ,  이종화

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

온도 변화에 따른 THIN OXIDE 악의 전기적 특성에 관한 연구

이앙구 ,  박성식 ,  최진석

대한전자공학회 학술대회

1986 .06

온도 변화에 따른 THIN OXIDE 막의 전기적 특성에 관한 연구 ( THE STUDY OF ELECTRIC CHARACTERISTIC ABOUT THIN OXIDE FILM AT THE VARIABLE TEMPERATURE )

최진석 ,  이앙구 ,  박성식

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

Flash EEPROM의 Inter-Poly Dielectric 막의 새로운 구조에 관한 연구 ( Study of the New Structure of Inter-Poly Dielectric Film of Flash EEPROM )

신봉조 ,  박근형

전자공학회논문지-D

1999 .10

상용 EEPROM 소자의 감마선 영향분석

김종열 ,  이남호 ,  황영관

대한전기학회 학술대회 논문집

2017 .07

Retention Model of NAND-type Nitride-Based Charge Trapping Flash Memory

Doo-Hyun Kim ,  Gil Sung Lee ,  Jung Hoon Lee 외 8명

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

2008 .06

다결정 실리콘 위에 성장한 ONO 절연체의 전기적 특성 ( Electrical Properties of ONO Dielectrics Grown on Polycrystalline Silicon )

조성천 ,  양광선 ,  박훈수 외 1명

전자공학회논문지-A

1992 .04

ONO 유전박막 캐패시터의 전하포획 및 전기적 특성 분석 ( An Analysis of Charge Trapping and Electrical Characteristics of ONO Dielectric Film Capacitors )

박광균 ,  최도영 ,  노병규 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1992 .07