반도체 Wafer Test 시 Probe Mark 정밀도 향상 방안 연구

손기복 ,  함상식 ,  최명택 외 6명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2012 .05

고온에서 전기적인 Wafer 특성 검사 시 Probe Mark 변화 연구

김승완 ,  손기복 ,  김경호 외 1명

대한기계학회 춘추학술대회

2012 .11

피로수명과 가공공차를 고려한 수직형 탐침의 형상 설계에 관한 연구

박종현 ,  이종길

한국소성가공학회 학술대회 논문집

2010 .05

Wafer Test 시 Probe Card Holder 의 변형에 의한 Contact 정밀도 향상 방안 연구

배지원 ,  신한모 ,  주민성 외 4명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2013 .05

고밀도 프로빙 테스트를 위한 수직형 프로브카드의제작 및 특성분석

민철홍 ,  김태선

전기전자재료학회논문지

2006 .01

원전 증기발생기 세관 검사를 위한 와전류 탐상 프로브의 현황 및 전망

김지호 ,  이향범

한국정보통신설비학회 학술대회

2006 .01

Wafer Pin Array Frame을 이용한 Probe Head Module

이재하

한국표면공학회 학술발표회 초록집

2012 .11

Plus(+) Point Probe를 이용한 용접부 와전류검사

이희종 ,  김용식 ,  남민우 외 2명

비파괴검사학회지

1999 .12

단일 ZnO 나노선 4단자 소자의 전기적 특성

김강현 ,  강원 ,  임찬영 외 5명

전기전자재료학회논문지

2005 .01

Comparison of ECT Probes in Diagnosis of Defects

Ho-Young Mun ,  Chang-Eob Kim

Journal of Electrical Engineering & Technology

2014 .01

고 세장비 프로브의 전장 정밀 측정용 검사 시스템 개발

백병선 ,  신세훈 ,  임태균 외 1명

한국기계가공학회 춘추계학술대회 논문집

2014 .11

채널의 효율적인 사용을 위한 Line Probing 기술

류재호 ,  이용환

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .04

채널의 효율적인 사용을 위한 Line Probing 기술 ( Line Probing Techniques for Efficient Channel Utilization )

류재호 ,  이용환

대한전자공학회 학술대회

1997 .01

Accurate CAP measurement 를 위한 Parasitic CAP 감소 방안 연구

권대성 ,  김광현 ,  김윤수 외 6명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2014 .05

The Capacity of Applying Electrical Resistance Probe in Natural Corrosion Tests of Vietnam

LeThiHongLien ,  LeQuocHung ,  PhamThySan

Corrosion Science and Technology

2003 .01

수직 프로브 압축테스트를 통한 FE 모델연구

이진영 ,  임성한 ,  민동균 외 1명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2016 .05

반도체 공정에서의 Wafer Map Image 분석 방법론

유영지 ,  안대웅 ,  박승환 외 1명

대한산업공학회지

2015 .06

마이크로 와이어 프로브 핀의 인장 물성 측정

오동권 ,  임성한 ,  민동균 외 1명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2016 .05

Single-configuration FPP method에 의한 실리콘 웨이퍼의 비저항 정밀측정

강전홍 ,  유광민 ,  구경완 외 1명

전기학회논문지

2011 .07