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저자정보
Sooeun Lee (Pohang University of Science and Technology (POSTECH)) Seungho Han (Pohang University of Science and Technology (POSTECH)) Ikho Lee (Pohang University of Science and Technology (POSTECH)) Jae-Yoon Sim (Pohang University of Science and Technology (POSTECH)) Hong-June Park (Pohang University of Science and Technology (POSTECH)) Byungsub Kim (Pohang University of Science and Technology (POSTECH))
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.15 No.2
발행연도
2015.4
수록면
184 - 193 (10page)

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This paper proposes a cost-efficient and automatic method for large data acquisition from a test chip without expensive equipment to characterize random process variation in an integrated circuit. Our method requires only a test chip, a personal computer, a cheap digital-to-analog converter, a controller and multimeters, and thus large volume measurement can be performed on an office desk at low cost. To demonstrate the proposed method, we designed a test chip with a current model logic driver and an array of 128 current mirrors that mimic the random process variation of the driver"s tail current mirror. Using our method, we characterized the random process variation of the driver"s voltage due to the random process variation on the driver"s tail current mirror from large volume measurement data. The statistical characteristics of the driver"s output voltage calculated from the measured data are compared with Monte Carlo simulation. The difference between the measured and the simulated averages and standard deviations are less than 20% showing that we can easily characterize the random process variation at low cost by using our cost-efficient automatic large data acquisition method.
#Random process variation #costefficient measurement #automatic large volume data acquisition #statistical characterization #current mode logic driver #current mirror array

목차

Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. MEASUREMENT TARGET
Ⅲ. MEASUREMENT SET-UP
Ⅳ. CIRCUIT DESCRIPTION
Ⅴ. CONTROLLER
Ⅵ. MEASUREMENT RESULT
Ⅶ. CONCLUSIONS
REFERENCES

참고문헌 (8)

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1. [학술지(정기간행물)] - 이교섭 / 2014 / Computing-Inexpensive Matrix Model for Estimating the Threshold Voltage Variation by Workfunction Variation in High-κ/Metal-gate MOSFETs / JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE 14 (1) : 96 ~ 99 google schola 2. [학술대회논문] - Seon-Kyoo Lee / 2013 / A 95fJ/b Current- Mode Transceiver for 100mm On-Chip Interconnect / IEEE International Solid-Stage Circuit Conference Digest of Technical Paper : 262 ~ 263 google schola 3. [학술지(정기간행물)] - Jone F. Bulzacchelli / 2006 / A 10-Gb/s, 5-Tap DFE/4-Tap FFE transmitter in 90-nm CMOS Technology / IEEE Journal of Solid-State Circuits 41 (12) google schola 4. [학술지(정기간행물)] - Vladimir Stojanovic / 2005 / Autonomous Dual-Mode (PAM2/4) Serial Link Transceiver With Adaptive Equalization and Data Recovery / IEEE Journal of Solid-State Circuits 40 (4) : 1012 ~ 1026 google schola 5. [학술지(정기간행물)] - 배창현 / 2013 / A 6-Gb/s Differential Voltage Mode Driver with Independent Control of Output Impedance and Pre-Emphasis Level / JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE 13 (5) : 423 ~ 429 google schola

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