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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2008.11
- 수록면
- 109 - 112 (4page)
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With the advent of super deep submicron age, the circuit performance is strongly impacted by the process variation. Power grid optimization which considers the timing error risk caused by the variation becomes very important for the stable and high-speed operation of the system. Most of conventional power grid optimization algorithms use the IR drop as their objective function. However, the real goal for optimizing the IR drop is eliminating the timing error risk by it. Thus, we propose a new approach which uses the "timing error risk caused by the IR drop" as its direct objective function. The process variation is also considered in the timing model. The new optimization method obtains variation tolerant and high quality results efficiently.
목차
Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. CIRCUIT DELAY AND IR DROP
Ⅲ. PROBLEM DEFINITION
Ⅳ. TIMING ERROR RISK
Ⅴ. POWER GRID OPTIMIZATION ALGORITHM
Ⅵ. EXPERIMENTAL RESULTS
Ⅶ. CONCLUSION
REFERENCES
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