Design for Testability

유영갑

한국통신학회 워크샵

1986 .01

Testability를 이용한 검사패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Test Pattern Generation Using Testability )

김진문 ,  송원국 ,  이강현 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .07

Testability of Supply Current Test in an AGC Circuit

Masaki Hashizume ,  Makoto Kawaji ,  i 외 3명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2003 .07

Design for Testability를 위한 검사방식

이강현 ,  김용득

전자공학회지

1992 .01

IC Package 기술개발 동향

오행석 ,  정철오 ,  조진호 외 1명

[ETRI] 전자통신동향분석

1989 .12

저전력 소모와 테스트 용이성을 고려한 회로 설계

이종원 ,  손윤식 ,  정정화 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

저전력 소모와 테스트 용이성을 고려한 회로 설계 ( A Study on Low Power and Design-For-Testability Techniques of Digital IC )

이종원 ,  손윤식 ,  정정화 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

신호선의 상관관계를 고려한 개선된 테스트용이도 분석 알고리즘

김윤홍

한국산학기술학회 논문지

2003 .03

Testability를 높이기 위한 Sea-of-Gates 구조에 관한 연구 ( A Study on the Sea-of-Gates Structure to Enhance Testability )

윤인수 ,  채수익

대한전자공학회 학술대회

1992 .01

초고속 IC Package 설계

김동구 ,  박형무 ,  마동성

Advanced and Future Microelectronics Workshop - Advanced Packaging Technology -

1989 .01

High-Frequency-Measurement-Based IC Package Performance Evaluation

Dongchul Kim ,  Jung-A Lee ,  Yungseon Eo

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

검증 테스팅을 위한 새로운 설계방법 ( A New Design Method for Verification Testability )

이영호 ,  정정화

전자공학회논문지-A

1992 .04

디지탈 IC 및 보드의 시험을 위한 스캔 설계 기술 ( Scan Design Techniques for Chip and Board Level Testability )

민형복

전자공학회지

1995 .12

IC편

김준호

전자공학회지

1967 .04

Hybrid Design For Testability Combining Scan and Clock Line Control and Method For Test Generation

Sanghyeon Baeg ,  William A. Roge ,  s

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

Hybrid Design For Testability Combining Scan and Clock Line Control and Method For Test Generation

Sang Hyeon Baeg ,  William A. Roge ,  s

대한전자공학회 토론회

1995 .01

논리계통의 회로측정방식 연구 ( Testability measurement for the digital systems )

김용득

대한전자공학회 학술대회

1980 .01

IDDQ Testability Analysis Using Random Test Vectors

Von Kyoung Kim ,  Tom Chen

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

Random Pattern Testability of AND/XOR Circuits

Gueesang Lee

Journal of Electrical Engineering and information Science

1998 .02

Testability Enhancement in IDDQ Environment

황선태

CAD 및 VLSI 설계연구회지

1995 .01