구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )

박종욱 ,  박경택 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  박경태 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

Design for Testability

유영갑

한국통신학회 워크샵

1986 .01

구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  신상훈 ,  박성주

정보과학회논문지(A)

1999 .09

디지탈 시스템의 회로측정 평가방식에 관한 연구 ( A Study on a Testability Evaluation Method for the Digital System )

김용득

전자공학회지

1981 .10

시험성 분석 기법 ( ITEM ) 의 부분 스캔 성능 평가 ( Partial Scan Performance Evaluation of Iterative Method of Testability Measurement ( ITEM ) )

김형국 ,  이재훈 ,  민형복

전자공학회논문지-C

1998 .11

Design for Testability를 위한 검사방식

이강현 ,  김용득

전자공학회지

1992 .01

기판 검사를 위한 다중 스캔 경로 제어기의 설계 및 구현

손우정 ,  윤태진 ,  이창희 외 1명

정보과학회논문지(C)

1996 .12

Testability를 이용한 검사패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Test Pattern Generation Using Testability )

김진문 ,  송원국 ,  이강현 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .07

System IC 설계 기술 ( System IC Design Techniques )

신현종

대한전자공학회 토론회

1997 .01

저전력 소모와 테스트 용이성을 고려한 회로 설계

이종원 ,  손윤식 ,  정정화 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

저전력 소모와 테스트 용이성을 고려한 회로 설계 ( A Study on Low Power and Design-For-Testability Techniques of Digital IC )

이종원 ,  손윤식 ,  정정화 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

Hybrid Design For Testability Combining Scan and Clock Line Control and Method For Test Generation

Sang Hyeon Baeg ,  William A. Roge ,  s

대한전자공학회 토론회

1995 .01

Hybrid Design For Testability Combining Scan and Clock Line Control and Method For Test Generation

Sanghyeon Baeg ,  William A. Roge ,  s

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

Signal Integrity 연결선 테스트용 다중천이 패턴 생성방안

김용준 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2008 .10

Testability of Pin Open in Small Outline Package ICs by Supply Current Test

Masao Takagi ,  Masaki Hashizume ,  Masahi 외 4명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2003 .07

Scan Flipflops Grouping Algorithm for Low Power Design-For-Testability

Insoo Kim ,  Hyoung Bok Min

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

3D IC 를 위한 저전력 스캔 체인 배열 방법

임현열 ,  임재일 ,  박기현 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

2015 .01

동시적 부분스캔 고장검출도 / 타이밍 최적화를 위한 논리변환 ( Logic Transformations for Concurrent Partial-scan Testability / Timing Optimization )

양세양

대한전자공학회 학술대회

1997 .01

검증 테스팅을 위한 새로운 설계방법 ( A New Design Method for Verification Testability )

이영호 ,  정정화

전자공학회논문지-A

1992 .04