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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2011.8
- 수록면
- 33 - 39 (7page)
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본 논문에서는 24㎓ 차량 추돌 예방 레이더 시스템-온-칩 고주파 전단부(RF front-end)에 대해 입력 임피던스, 전압이득, 잡음지수 및 입력 전압 정재파비를 자동으로 측정할 수 있는 새로운 형태의 고주파BIST(Built-In Self-Test) 회로 및 알고리즘을 제안한다. 이러한 BIST 회로는 TSMC 0.13㎛ 혼성신호/고주파CMOS 공정 (fT/fMAX=140/120㎓) 공정으로 설계되어 있고, 알고리즘은 LabVIEW로 구현되어 있다. BIST 알고리즘은 입력 임피던스 정합과 출력 직류 전압 측정원리를 이용한다. 본 논문에서 제안하는 방법은 자동으로 쉽게 고주파 전단부의 성능 변수를 측정할 수 있기 때문에 시스템-온-칩의 저가 성능 검사의 대안이 될 것으로 기대된다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 회로 및 시스템 구축
Ⅲ. 측정 결과
Ⅳ. 결론
참고문헌
저자소개
참고문헌 (6)
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1. [학술지(정기간행물)] - J. Y. Ryu / 2010 / Programmable RF System for RF System-on- Chip / Communications in Computer and Information Science 120 (1) : 311 ~ 315
2. [학술지(정기간행물)] - 이신신 / 200904 / On-chip micromachined solenoid balun for RF-SOC applications / ELECTRONICS LETTERS 45 (8) : 409 ~ 410
3. [학술지(정기간행물)] - J. Y. Ryu / 2003 / Novel Defect Testing of RF Front End Using Input Matching Measurement / 9th IEEE Int. Mixed-Signal Testing Workshop 9 (1) : 31 ~ 34
4. [학술지(정기간행물)] - J. Y. Ryu / 2004 / A New RF BIST for 4.5-5.5GHz Low Noise Amplifiers / 10th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop 10 (1) : 189 ~ 195
5. [학술대회논문] - D. Lupea / 2003 / RF-BIST: Loopback Spectral Signature Analysis / 2003 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition : 478 ~ 483
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