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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2007.10
- 수록면
- 1,260 - 1,270 (11page)
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테스트 기술자들에게 아날로그 회로(또는 혼합신호 회로)의 테스트와 진단은 여전히 어려운 문제여서 이를 해결할 수 있는 효과적인 테스트 방법이 크게 요구된다. 본 논문에서는 time slot specification(TSS) 기반의 내장 전류감지기(Built-in Current Sensor)를 이용한 새로운 아날로그 회로의 테스트 기법을 제안한다. 또한 TSS에 기반하여 고장 위치를 찾아내고 고장의 종류를 구별해 내는 방법을 제시한다. TSS 기법과 함께 제안하는 내장 전류감지기는 높은 고장 용이도와 높은 고장 검출율 그리고 아날로그 회로내 강고장과 약고장에 대한 높은 진단율을 갖는다. 제안하는 방법에서는 주출력과 전원단자등을 테스트 포인트로 사용하고 전류감지기를 자동 테스트 장치(Automatic Test Equipment)에 구성하므로써 테스트 포인트 선택과정의 복잡도를 줄일 수 있다. 내장 전류 감지기의 디지털 출력은 아날로그 IC 테스트를 위한 내장 디지털 테스트 모듈과 쉽게 연결된다.
목차
요약
ABSTRACT
1. 서론
2. 고성능 전류감지기
3. Specification 기반의 고장 테스트
4. 테스트 포인트 선택
5. 실험 및 검토
6. 결론
참고문헌
참고문헌 (17)
참고문헌 신청
1. [학술지(정기간행물)] - Linda S. Milor / 1998 / A Tutorial Introduction to Research on Analog and Mixed-signal Circuit Testing / IEEE Trans. Cir. and Syst 45 (10) : 1389 ~ 1407
2. [학술지(정기간행물)] - C. L. Wey / 1990 / Built-In-Self-Test(BIST)Structure for Analog Circuit Fault Diagnosis / IEEE Trans. Instrum. and Meas 39 (3) : 517 ~ 521
3. [학술지(정기간행물)] - C. L. Wey / 1992 / Built-In-Self-Test(BIST)Structures for Analog Circuit Fault Diagnosis with Current Test Data / IEEE Trans. Instrum. and Meas 41 (1) : 535 ~ 539
4. [학술지(정기간행물)] - L. T. Wurtz / 1993 / Built-In-Self-Test Structure for Mixed Mode Circuits / IEEE Trans. Instrum. and Meas 42 (1) : 25 ~ 29
5. [학술대회논문] - 송근호 / 2000 / 오프셋과 고주파수를 이용한 연산등폭기의 새로운 테스트 방식 / 대한전자공학회 하계종합학술대회 23 (1) : 189 ~ 192
2. [학술지(정기간행물)] - C. L. Wey / 1990 / Built-In-Self-Test(BIST)Structure for Analog Circuit Fault Diagnosis / IEEE Trans. Instrum. and Meas 39 (3) : 517 ~ 521
3. [학술지(정기간행물)] - C. L. Wey / 1992 / Built-In-Self-Test(BIST)Structures for Analog Circuit Fault Diagnosis with Current Test Data / IEEE Trans. Instrum. and Meas 41 (1) : 535 ~ 539
4. [학술지(정기간행물)] - L. T. Wurtz / 1993 / Built-In-Self-Test Structure for Mixed Mode Circuits / IEEE Trans. Instrum. and Meas 42 (1) : 25 ~ 29
5. [학술대회논문] - 송근호 / 2000 / 오프셋과 고주파수를 이용한 연산등폭기의 새로운 테스트 방식 / 대한전자공학회 하계종합학술대회 23 (1) : 189 ~ 192
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