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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2009.1
- 수록면
- 23 - 28 (6page)
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Testing of analog(and mixed-signal) circuits has been a difficult task for test engineers and effective test techniques to solve these problems are required. This paper develops a new technique which increases fault detection and diagnosis rates for analog circuits by using extended MTSS (Modified Time Slot Specification) technique based on MTSS proposed by the author. High performance current sensors with digital outputs are used as core components for these techniques. A fault diagnosis structure with minimal hardware overhead in ATE is also described .
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참고문헌 (7)
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E. L. Salama / 1991 / Parameter identification approach to fault diagnosis of switched capacitor circuits / IEE Proc. Electron Trans. Cir. and Syst. : 437 ~ 472
J. M. Lee / 2002 / Time Slot Specification Based Approach to Analog Fault Diagnosis using Built-In Current Sensors and Test Point Insertion / Proceedings of ATS02 : 1167 ~ 1170
J. M. Lee / 2006 / Specification-based Analog and Mixed-signal Circuits Test with Minimal Built-In Hardware Overhead / Proceedings of KIERE Summer Conference : 633 ~ 636
Jhihong You / 1995 / Analog system-Level fault diagnosis based on a symbolic method in the frequency domain / IEEE Trans. Instrum. and Meas. 44 (1)
Jun-Weir Lin / 2000 / Fault diagnosis for linear analog circuits / Proceedings of the Ninth Asian Test Symposium, 2000. (ATS 2000), : 25 ~ 30
J. M. Lee / 2002 / Time Slot Specification Based Approach to Analog Fault Diagnosis using Built-In Current Sensors and Test Point Insertion / Proceedings of ATS02 : 1167 ~ 1170
J. M. Lee / 2006 / Specification-based Analog and Mixed-signal Circuits Test with Minimal Built-In Hardware Overhead / Proceedings of KIERE Summer Conference : 633 ~ 636
Jhihong You / 1995 / Analog system-Level fault diagnosis based on a symbolic method in the frequency domain / IEEE Trans. Instrum. and Meas. 44 (1)
Jun-Weir Lin / 2000 / Fault diagnosis for linear analog circuits / Proceedings of the Ninth Asian Test Symposium, 2000. (ATS 2000), : 25 ~ 30
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