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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2010.10
- 수록면
- 462 - 464 (3page)
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As the increasing integrity of VLSI, the BIST(Built-In Self Test) is used as an effective method to test chips. Generally the pseudo-random test pattern generation is used for BIST. But it requires too many test patterns when there exist random resistant faults. Therefore we propos ... 전체 초록 보기
목차
Abstract
1. 서론
2. 본론
3. 결과
4. 결론
[참고문헌]
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