Master-Slave 기법을 적용한 System Operation의 동작 검증

金吝洙; 閔炯福

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자료유형: 학술저널

저자정보: 金吝洙 (성균관대학교) 閔炯福 (성균관대학교)

저널정보: 대한전기학회 전기학회논문지 전기학회논문지 제58권 제1호

발행연도: 2009.1

수록면: 199 - 202 (4page)

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Scan design is currently the most widely used structured Design For Testability approach. In scan design, all storage elements are replaced with scan cells, which are then configured as one or more shift registers(also called scan chains) during the shift operation. As a result, all inputs to the combinational logic, including those driven by scan cells, can be controlled and all outputs from the combinational logic, including those driving scan cells, can be observed. The scan inserted design, called scan design, is operated in three modes: normal mode, shift mode, and capture mode. Circuit operations with associated clock cycles conducted in these three modes are referred to as normal operation, shift operation, and capture operation, respectively. In spite of these, scan design methodology has defects. They are power dissipation problem and test time during test application. We propose a new methodology about scan shift clock operation and present low power scan design and short test time.

#Low Power Testing #Master-Slave Structure #Scan Design #Shift Operation #System Verification

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1. [단행본] - Laung-Terng Wang / 2008 / System On Chip Test Architectures Nanometer Design For Testability / Morgan Kaufmann Publishers

2. [단행본] - Laung-Terng Wang / 2006 / VLSI Test Principles and Architectures Design For Testability / Morgan Kaufmann Publishers

3. [단행본] - Bushnell,M.L. / 2000 / Essentials of Electronic Testing / Academic publishers

4. [단행본] - Abramovici,M. / 1990 / Digital Systems Testing and Testable Design / Computer Science Press

5. [단행본] - Miczo,A. / 1986 / Digital Logic Testing and Simulation / John Wiley & Sons

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