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학술저널
저자정보
이재훈 (여주대학) 백철기 (성균관대학교) 김인수 (장안대학교) 민형복 (성균관대학교)
저널정보
대한전기학회 전기학회논문지 전기학회논문지 제60권 제5호
발행연도
2011.5
수록면
1,043 - 1,048 (6page)

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Test vector reordering is a very effective way to reduce power consumption during test application. But, it is time-consuming and complicated processes, and it does not consider internal circuit structure, which may limit the effectiveness. In this paper, we order test vectors using fanout count of primary inputs that consider the internal circuit structure, which may reduce the switching activity. Then, we reorder test test vectors again by using Hamming distance between test vectors. We proposed FOVO algorithm to perform these two ideas. FOVO is an effective way to reduce power consumption during test application. The algorithm is applied to benchmark circuits and we get an average of 3.5% or more reduction of the power consumption.

목차

Abstract
1. 서론
2. 전력소모 계산
3. 팬 아웃을 고려한 테스트 벡터정렬
4. FOVO 알고리즘
5. 실험결과
6. 결론
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