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저널정보
대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2008년도 추계학술대회
발행연도
2008.11
수록면
1,289 - 1,294 (6page)

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Electrostatic discharge(ESD) phenomenon is a serious reliability concern. It causes approximately most of all field failures of IC. To quality the ESD immunity of IC product, there are some test methods and standards developed. ESD events have been classified into 3 models, which are HBM, MM and CDM. All the test methods are designed to evaluate the ESD immunity of IC products. This study provides an overview among ESD test methods on ICs and an efficient ESD stress method. We have estimated on all pin combination about the positive and negative ESD stress. We make out the weakest stress mode. This mode called a worst-case mode. We proposed that positive supply voltage pin and I/O pin combination is efficient because it is a worst-case mode.
#ESD(Electrostatic Discharge, 정전기 방전) #MM(Machine Model, 기계적 모델) #ESD Stress Mode(정전기방전 스트레스 모드) #JEDEC(Joint Electron Device Engineering Council, 합동 전자 장치 엔지니어링 협의회)

목차

Abstract
1. 서론
2. ESD 고장 메커니즘
3. ESD 시험
4. ESD 보호회로
5. 시험결과 및 분석
6. 결론
참고문헌

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