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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 저널정보
- Korean Society for Precision Engineering Journal of the Korean Society for Precision Engineering 한국정밀공학회지 제22권 제12호
- 발행연도
- 2005.12
- 수록면
- 170 - 174 (5page)
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A numerical system to extract effective elastic properties of polycrystalline thin-films for MEMS devices is developed. In this system, the statistical model based on lattice system is used for modeling the microstructure evolution simulation and the key kinetics parameters of given micrograph, grain distributions and deposition process can be extracted by inverse method proposed in the system. In this work, effects of kinetics parameters on the extraction of effective elastic properties of polycrystalline thin-films are studied by using statistical method. Effects of the fraction of the potential site(f<SUB>p</SUB>) among the parameters for deposition process of microstructure on the extraction of effective elastic properties of polycrystalline thin-films are investigated. For this research, polysilicon is applied to this system as the polycrystalline thin-films.
목차
ABSTRACT
1. 서론
2. 시스템 소개
3. 매개변수의 영향
4. 결론
후기
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