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Sn-9Zn solder balls were bonded to Cu and ENIG (Electroless Nickel/Immersion Gold) pads, and the effect of aging on their joint reliability was investigated. The interfacial products were different from the general reaction layer formed in a Sn-base solder. The intermetallic compounds formed in the solder/Cu joint were Cu?Zn? and Cu?Sn?. After aging treatment, voids formed irregularly at the bottom side of the solder because of Sn diffusion into the Cu?Zn? IMC. In the case of the ... 전체 초록 보기

목차

ABSTRACT
1. 서론
2. 실험방법
3. 결과 및 고찰
4. 결론
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