메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
저널정보
한국기계가공학회 한국기계가공학회 춘추계학술대회 논문집 한국기계가공학회 2006년도 춘계학술대회 논문집
발행연도
2006.6
수록면
244 - 248 (5page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
CMP(chemical mechanical planarization) is the global planarization method that has been selected by the semiconductor industry today for LSI(large scale integrated circuit). The planarization technology, CMP in the semiconductor fabrication, widely used to improve a fine characteristic of MEMS(microelectro mechanical system) structure. However, there are several considering components for an application of CMP technology in MEMS structure. The CMP of established IC(integrated circuit) devices and MEMS structures have both many similarity and difference aspects. One of variety elements, a conspicuous difference figure, is a large scale in between MEMS structures and IC devices. In this research, the general IC device consumbles are used in polysilicon largely using MEMS structure forming to identify an influence of those consumbles.

목차

ABSTRACT
1. 서론
2. 화학 기계적 연마
3. CMP 적용을 위한 장치
4. MEMS 구조물의 CMP 적용
5. 결론
참고문헌

참고문헌 (0)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-581-017127612