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한국조명·전기설비학회 조명·전기설비학회논문지 조명·전기설비학회논문지 제18권 제1호
발행연도
2004.1
수록면
105 - 114 (10page)

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본 논문에서 반도체 소자에 대한 DC 파라미터 검사를 위한 회로를 설계하였다. DC 파라미터 검사기는 반도체 소자의 DC 특성을 검사하는 시스템 이다. 본 논문에서 설계한 회로에서는 파라미터를 검사하기 위해 전압(전류)인가 전류(전압)측정 방법을 사용하도록 회로를 설계하였다. 설계한 회로를 OR-CAD를 사용하여 실험하였으며, 설계된 회로의 실험결과를 통해 좋은 성능을 가짐을 알 수 있었다.
#DC parameter test #semiconductor device #inspection error

목차

요약
Abstract
1. 서론
2. DC 파라미터 검사기 회로설계
3. 결과 및 고찰
4. 결론
References
◇저자소개◇

참고문헌 (4)

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[학술지(정기간행물)] - / 1986. / Introduction to Component Testing google schola [학술지(정기간행물)] - / 2001. / 메모리 테스트 : 13 ~ 66 google schola [학술지(정기간행물)] - / 1990. / OP-AMP 회로 기초 : 51 ~ 54 google schola [학술지(정기간행물)] - / 1991. / 활용 OP-AMP 회로 : 10 ~ 23 google schola

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