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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
김준식 (호서대학교 전기정보통신공학부) 주효남 (호서대학교 전기정보통신공학부) 전병준 (호서대학교대학원 전자공학과) 이상신 (호서대학교대학원 전자공학과)
저널정보
한국반도체디스플레이기술학회 반도체및디스플레이장비학회지 반도체및디스플레이장비학회지 제3권 제1호
발행연도
2004.1
수록면
1 - 7 (7page)

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In this paper, we have developed the DC parameters test system which inspects the properties of DC parameters for semiconductor products. The developed system is interfaced by IBM-PC. It is consisted of CPLD part, ADC(Analog-to-Digital Converter), DAC(Digital-to-Analog Converter), voltage/current source, variable resistor and measurement part. In the proposed system, we have designed the constant voltage source and the constant current source in a part. In the comparison of results, the results of the simulation are very similar to the ones of the implementation.
#DC Parameter Test System #Voltage #Semiconductor #Memory #Error Inspection

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