CMOS 논리회로의 Multiple Stick-Open 고장 검출 ( The Multiple Stuck-Open Fault Detection in CMOS Logic Circuits )

김영호 ,  민병현 ,  노승용 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

Self - Test가 용이한 CMOS 논리회로 설계

김영호 ,  민병헌 ,  조완교 외 2명

한국정보과학회 학술발표논문집

1990 .10

단일 테스트 모드를 이용한 CMOS 회로내의 Stuck-Open 고장 검출 ( Fault Detection of CMOS Stuck-Open Fault Using Single Test Mode )

조완교 ,  김영호 ,  노승룡 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1992 .01

신경 회로망을 이용한 CMOS 회로의 stuck-open 고장 테스트 생성

백준 ,  이종한 ,  이재민

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

CMOS회로의 Stuck-Open 고장을 위한 테스트 생성 ( Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS Circuits )

이철원 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

CMOS 회로의 Stuck-open 고장검출을 위한 로보스트 테스트 생성 ( Robust Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS Circuits )

정준모 ,  임인칠

전자공학회논문지

1990 .11

CMOS회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

CMOS 회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘 ( A New Test Generation Algorithm for Detection of Faults in CMOS Circuits )

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

BiCMOS 회로의 Stuck - Open 고장과 Stuck - On 고장 검출을 위한 테스트 패턴 생성

신재흥 ,  임인칠

전자공학회논문지-C

1997 .01

CMOS 회로의 Stuck-open 고장에 대한 Built-In Self Test ( Built-In Self Test for Stuck-open Faults of CMOS Circuits )

송석훈 ,  김훈기 ,  김윤홍 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1989 .07

Stuck-Open 고장 검출이 용이한 단일 테스트 패턴 생성 ( Generate Single Test Pattern for Stuck-Open Fault in CMOS )

김영호 ,  조완교 ,  조석현 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

신경회로망을 이용한 CMOS 회로의 Stuck-open 고장 테스트 생성 ( Test Generation for the Stuck-open Faults of CMOS Circuits Using Neural Networks )

백준 ,  이종한 ,  이재민

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

고장검출이 용이한 논리회로 설계에 관한 연구

김호경 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1981 .01

경로 활성화 방법을 이용한 고장 시뮬레이션

허용민 ,  박동규 ,  이홍주 외 2명

한국정보과학회 학술발표논문집

1988 .10

CMOS PLA의 Stuck-Open 고장검출을 위한 Built-In 테스트 ( Built-In Test for Detection of Stuck-Open Faults in CMOS PLAs )

정준모 ,  임인칠

전자공학회논문지-B

1991 .06

CMOS PLA 설계 및 Stuck-Open 고장 검출 ( A Simplified CMOS PLA and Stuck-Open Faults Detection )

김용두 ,  조상복 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

전류 테스팅 기법을 이용한 CMOS회로의 고장 검출 및 위치 결정 ( Fault Detection and Location of CMOS circuits using Current Testing Techniques )

이재웅 ,  안철회 ,  이광훈 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

전류 테스팅 기법을 이용한 CMOS 회로의 고장 검출 및 위치 결정

이재웅 ,  안철희 ,  이광훈 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

CMOS PLA 의 Stuck-Open 고장에 대한 테스트 생성 ( Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS PLA )

이종철 ,  신용철 ,  조상복 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

고장검출 기본 이론과 고장검출 필터의 개념

이은성

제어로봇시스템학회지

2010 .06