CMOS PLA 의 Stuck-Open 고장에 대한 테스트 생성 ( Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS PLA )

이종철 ,  신용철 ,  조상복 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

CMOS PLA의 Stuck-open 故障에 대한 테스트 生成

李種哲 ,  申容澈 ,  趙相福 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1985 .06

CMOS PLA의 Stuck-Open 고장검출을 위한 Built-In 테스트 ( Built-In Test for Detection of Stuck-Open Faults in CMOS PLAs )

정준모 ,  임인칠

전자공학회논문지-B

1991 .06

단일 테스트 모드를 이용한 CMOS 회로내의 Stuck-Open 고장 검출 ( Fault Detection of CMOS Stuck-Open Fault Using Single Test Mode )

조완교 ,  김영호 ,  노승룡 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1992 .01

CMOS회로의 Stuck-Open 고장을 위한 테스트 생성 ( Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS Circuits )

이철원 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

CMOS 회로의 Stuck-open 고장에 대한 Built-In Self Test ( Built-In Self Test for Stuck-open Faults of CMOS Circuits )

송석훈 ,  김훈기 ,  김윤홍 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1989 .07

Stuck-Open 고장 검출이 용이한 단일 테스트 패턴 생성 ( Generate Single Test Pattern for Stuck-Open Fault in CMOS )

김영호 ,  조완교 ,  조석현 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

신경회로망을 이용한 CMOS 회로의 Stuck-open 고장 테스트 생성 ( Test Generation for the Stuck-open Faults of CMOS Circuits Using Neural Networks )

백준 ,  이종한 ,  이재민

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

CMOS 회로의 Stuck-open 고장검출을 위한 로보스트 테스트 생성 ( Robust Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS Circuits )

정준모 ,  임인칠

전자공학회논문지

1990 .11

A Built-In Self Test Technique for Stuck-Open Faults of CMOS Circuits

In Chil Lim ,  Yun Hong Kim ,  Jun Mo Jung

International Conference on Electronics, Informations and Communications

1991 .01

CMOS 논리회로의 Multiple Stick-Open 고장 검출 ( The Multiple Stuck-Open Fault Detection in CMOS Logic Circuits )

김영호 ,  민병현 ,  노승용 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

C 언어를 이용한 CMOS PLA의 설계 ( Design of CMOS PLA Using C Language )

차균현 ,  케빈카플러스

전자공학회지

1984 .09

Tri-State Inverter와 Switch Array를 이용한 Cmos Stuck-Open 고장 검출 ( Detection of Cmos Stuck-Open Fault Using Tri-state Inverter & Switch Array )

김영호 ,  조완교 ,  조석현 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1990 .11

Tri-state Inverter와 Switch Array를 이용한 CMOS Stuck-Open 고장 검출

김영호 ,  조완교 ,  조석현 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1990 .11

BiCMOS 회로의 Stuck - Open 고장과 Stuck - On 고장 검출을 위한 테스트 패턴 생성

신재흥 ,  임인칠

전자공학회논문지-C

1997 .01

전류모드 CMOS 다치 PLA 설계

임동민 ,  신부식 ,  김흥수

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

전류모드 CMOS 다치 PLA 설계 ( The Design of Current-Mode CMOS Multiple-Valued PLA )

임동민 ,  신부식 ,  김흥수

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

PLA에서의 고장검출 및 고장진단에 관한 연구 ( A Study on Fault Detection and Diagnosis in PLA )

이은설 ,  김희석 ,  임제탁

전자공학회지

1981 .06

고속 다이나믹 CMOS PLA의 설계 ( Design of a High-Speed Dynamic CMOS PLA )

김윤홍 ,  임인칠

전자공학회논문지-B

1991 .11

A BUILT-IN SELF TEST TECHNIQUE FOR STUCK-OPEN FAULTS OF CMOS CIRCUITS

In-chil Lim ,  Yun-hong Kim ,  Jun-mo Jung

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

1991 .08