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저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제39권 제7호
발행연도
2002.7
수록면
74 - 80 (7page)

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SOC와 같은 VLSI 집적 회로는 기능적 이유 등으로 인해 다중 클락의 설계 기법을 필요로 한다. 테스트시 클락 오더링과 같은 문제의 효과적이지 못한 대응으로 인해 클락 도메인간의 전이에서 많은 오류들이 발생한다. 본 논문은 다중 클락 시스템에서의 새로운 자체 테스크 기법을 제시한다. 클락 스큐의 문제는 다중 캡쳐의 동작으로 제거하며, 다른 클락 도메인간 혹은 같은 클락 도메인간의 테스트 모두를 동작속도에서 가능하게 한다.

목차

Ⅰ. 서론

Ⅱ. 기존의 다중 클락 회로의 내장된 자체 테스트 기법

Ⅲ. 다중 클락 회로의 내장된 자체 테스트 구조의 테스트 방법론

Ⅳ. 결과

Ⅴ. 결론

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