실리콘 산화막의 트랩 밀도에 관한 연구 ( A study on the Trap Density of Silicon Oxide )

김동진 ,  강창수

전자공학회논문지-T

1999 .03

실리콘 산화막의 전류 특성

강창수 ,  이재학

전기전자재료학회논문지

2016 .01

플래쉬 EEPROM을 위한 실리콘 산화막의 스트레스 유기 누설전류

강창수

전자공학회논문지-IE

2001 .12

실리콘 산화막의 전압 전류 특성

강창수

대한전자공학회 학술대회

2016 .06

Charge Pumping Method를 이용한 Silicon-Al2O3-Nitride- Oxide-Silicon Flash Memory Cell Transistor의 트랩과 소자 특성 분석

박성수 ,  최원호 ,  한인식 외 2명

전자공학회논문지-SD

2008 .07

The Characteristics of Trap in Silicon Oxide with Nano Scale Structure

C. S. Kang ,  Yi ,  Chongho

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2002 .07

다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 2종 결함을 고려한 트랩 상태 밀도 모델

金容商 ,  黃貞烈 ,  李成圭 외 3명

전기학회논문지

1994 .11

The Characteristic of Low Level Current in Silicon Oxide

Chang-Soo Kang

대한전자공학회 학술대회

2013 .07

실리콘 산화공정에 대한 실험적 고찰 ( An Experimental Study on the Oxidation Process of Silicon )

최연익 ,  김충기

전자공학회지

1979 .03

시뮬레이션을 통한 MOSFET 산화막 내부트랩의 영향 비교분석

이현슬 ,  유성원 ,  서영수 외 5명

대한전자공학회 학술대회

2015 .06

Characteristics of Trap in the Thin Silicon Oxides with Nano Structure

C.S.Kang

Transactions on Electrical and Electronic Materials

2003 .01

나노 구조에서 실리콘 산화 절연막의 스트레스 유기 누설전류

강창수

전자공학회논문지-IE

2002 .12

실리콘 산화막의 저레벨 누설전류에 관한 연구 ( A Study on the Low Level Leakage Currents of Silicon Oxides )

강창수 ,  김동진

전자공학회논문지-T

1998 .06

실리콘 산화공정에 대한 실험적 고찰

최연익 ,  길충기

대한전자공학회 학술대회

1978 .01

실리콘 산화공정에 대한 실험적 고찰

최연익 ,  길충기

대한전자공학회 심포지엄 논문집

1978 .01

산화막의 질화조건에 따른 트랩 파라미터에 관한 연구

강성준 ,  정양희 ,  윤운하

한국전자통신학회 논문지

2016 .01

다결정 실리콘 / 다결정 실리콘 열산화막의 계면 거칠기를 개선하기 위한 새로운 산화 방법

전명철 ,  김진원 ,  김기범 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1995 .01

정확환 Field Enhancement Factor를 고려하여 트랩 종류에 따른 트랩사이 거리 추출

전현옥 ,  유성원 ,  이현슬 외 5명

대한전자공학회 학술대회

2015 .06