표면 채널형 0.1㎛ CMOSFET 소자 제작

권혁만 ,  박병국 ,  이종덕

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

표면 채널형 0.1μm CMOSFET 소자 제작 ( Fabrication of Surface Channel 0.1μm CMOSFET )

권혁만 ,  박병국 ,  이종덕

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

Dual-Gate Surface Channel 0.1㎛ CMOSFETs

Hyouk Man Kwon ,  Yeong-Taek Lee ,  Jong Duk Lee 외 2명

Journal of Electrical Engineering and information Science

1998 .04

Deep Submicron PMOSFET의 Scaling 방법 ( Scaling Methodology of Deep Submicron P-MOSFET )

장성준 ,  김용택 ,  유종근 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

Deep submicron PMOSFET의 Scaling 방법

장성준 ,  김용택 ,  유종근 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

Submicron에서의 소자 기술 동향

신형순

전자공학회지

1991 .09

티타늄샐리사이드 공정을 이용한 0.1㎛ CMOSFET의 전기적특성 개선

엄금용 ,  최성진 ,  조재영 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

A Novel High Voltage CMOSFET of 80 Volts Operation

T. P. Rhee ,  H. I. Chae ,  Y. H. Koh 외 3명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

DEEP SUBMICRON CMOS TECHNOLOGY AND DESIGN CHALLENGES

Bijan Dava ,  i

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

Dual-Poly Gate Surface Channel 0.1mm CMOSFETs

Hyouk Man Kwon ,  Yeong Taek Lee ,  Byung Gook Pa 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1997 .01

Submicron 소자를 위한 고속열처리 공정 ( Rapid Thermal Processing for Submicron Devices )

김충기

한국통신학회 학술대회논문집

1988 .01

Submicron 소자를 위한 고속열처리 공정 ( Rapid Thermal Processing for Submicron Devices )

김충기

특정연구 결과 발표회 논문집

1988 .01

나노급 소자의 핫캐리어 특성 분석

나준희 ,  최서윤 ,  김용구 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2004 .06

SUBMICRON DEVICE RELIABILITY RESEARCH

Chenming Hu

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

CHARACTERISTICS of CMOSFETs with SPUTTER-DEPOSITED W / TiN STACKED GATE

Mahn Ho Cho ,  Kye Hee Yeom ,  Duck Hyung Lee 외 3명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1995 .01

Reliability and Power Estimation of Deep Submicron VLSI Circuits

Ib ,  ahim Haji

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

Electrical Characterization of the Wet-Grown Ultra-Thin Gate Oxide and its Application to CMOSFETs

홍성인 ,  이종덕 ,  박병국

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

Effect of Implant Tilt Angle on the Electrical Properties of Source / Drain Junctions in Submicron MOSFET's

Y. G. Yi ,  C. T. Kim ,  C. G. Ko 외 2명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1991 .01

Optical Resist Process Technology for Deep-Submicron Patterning

문승찬 ,  복철규 ,  김진섭 외 3명

대한전자공학회 워크샵

1991 .01

Submicron 이미지 분석을 이용한 수화물 분석방법

문주혁 ,  배성철

콘크리트학회지

2019 .05