Signal Integrity for Submicron-Technology-Based High Speed and High Density VLSI Circuits

어영선

CAD 및 VLSI 설계연구회지

1995 .01

Lower Power Channel Routing by Crosstalk Minimization for Deep Submicron VLSI Design

Su-Hyun Nam ,  Jun-Dong Cho

Journal of Electrical Engineering and information Science

1999 .12

SUBMICRON DEVICE RELIABILITY RESEARCH

Chenming Hu

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

Low Power VLSI 설계를 위한 Circuit-level Power 해석 환경 개발 ( Development of a Circuit-level Power Analysis Environment for Low VLSI Design )

이재훈 ,  김택수 ,  공정택 외 1명

대한전자공학회 토론회

1997 .01

Low Power VLSI 설계를 위한 Circuit-level Power 해석 환경 개발

이재훈 ,  김택수 ,  공정택 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1997 .07

VLSI의 신뢰성 ( Reliability Issues in VLSI )

이귀로

대한전자공학회 학술대회

1987 .05

Deep Submicron PMOSFET의 Scaling 방법 ( Scaling Methodology of Deep Submicron P-MOSFET )

장성준 ,  김용택 ,  유종근 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

Deep submicron PMOSFET의 Scaling 방법

장성준 ,  김용택 ,  유종근 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

LOW-POWER CIRCUIT DESIGN FOR MULTIMEDIA VLSI

Takayasu Saku ,  ai ,  Tadahi 외 2명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1995 .01

DEEP SUBMICRON CMOS TECHNOLOGY AND DESIGN CHALLENGES

Bijan Dava ,  i

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

VLSI Design

경종민

대한전자공학회 단기강좌

1983 .01

FAULT MODELING AND SIMULATION FOR VLSI CIRCUITS

Min Sup Kang ,  Hi ,  oaki Iwashita 외 4명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

Submicron Gate Structure의 신뢰성 및 노화현상에 관한 연구 ( Reliability and Degradation Phenomena of Submicron Gate Structure )

강광남 ,  이명복 ,  이정일

한국통신학회 학술대회논문집

1989 .01

Submicron Gate Structure의 신뢰성 및 노화현상에 관한 연구 ( Reliability and Degradation Phenomena of Submicron Gate Structure )

이명복 ,  이정일 ,  강광남

특정연구 결과 발표회 논문집

1989 .01

A New Model Parameter Extraction Environment for the Submicron Circuit MOS Models

최창훈

KITE JOURNAL OF ELECTRONICS ENGINEERING

1993 .01

저 전력을 위한 VLSI 설계 최적화 ( Lower Power Driven VLSI Design Optimization )

조준동

CAD 및 VLSI 설계연구회지

1995 .01

Improving Performance and Routability Estimation in Deep-submicron Placement

June-Dong Cho ,  Jin-Youn Cho

Journal of Electrical Engineering and information Science

1998 .06

VLSI설계와 CAD기술개발

오길록

전자진흥

1985 .01

SIGNAL INTEGRITY FOR HIGH SPEED VLSI CIRCUITS

어영선

대한전자공학회 토론회

1995 .01

SIGNAL INTEGRITY FOR HIGH SPEED VLSI CIRCUITS

YUNGSEON EO

대한전자공학회 학술대회

1995 .07