조합 논리 회로의 기능적 출력 검증을 위한 의사-전체검사 패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Pseudo-Exhaustive Test Pattern Generation for the Functional Output Verification of Combinational Logic Circuits )

김진문 ,  이강현 ,  김용득

대한전자공학회 학술대회

1990 .01

Pseudo-exhaustive Test를 위한 회로 분할에 관한 연구 ( A Study on the Circuit Partitioning for Pseudo-exhaustive Test )

정호성 ,  이영호 ,  정정화

대한전자공학회 학술대회

1995 .01

Net-list를 이용한 조합 논리 회로의 의사-전체검사 패턴생성에 관한 연구 ( A Study on the Pseudo-exhaustive Test Pattern Generation of Combinational Logic Circuits Using the Net-list )

김진문 ,  이강현 ,  박종백 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .11

Net-list를 이용한 조합 논리 회로의 의사-전체검사 패턴생성에 관한 연구

김진문 ,  이강현 ,  박종백 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .11

A New Pseudo-Exhaustive Testing Using t-distribution

Kang Hyeon Rhee

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1997 .01

다단 레벨 조합논리 회로의 Net-list 를 이용한 Pseudo-exhaustive Test 에 관한 연구 ( A Study on the Pseudo-exhaustive Test using a Net-list of Multi-level Combinational Logic Circuits )

이강현 ,  김진문 ,  김용득

전자공학회논문지-B

1993 .05

디스플레이 테스트를 위한 패턴 생성 회로 설계

조경연

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

Exhaustive 테스트 기법을 사용한 효율적 병렬테스팅

김우완

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2003 .04

조합회로에 대한 고장 진단 검사신호 생성 ( Diagnostic Test Pattern Generation for Combinational Circuits )

박영호 ,  민형복 ,  이재훈 외 1명

전자공학회논문지-C

1999 .09

회로 분할에 의한 순차회로의 테스트생성 ( Test Generation for Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )

최호용

전자공학회논문지-C

1998 .04

반도체 집적회로의 고장 가능성에 기초한 테스트 패턴 생성 ( Test Pattern Generation on the basis of Fault Probability in Semiconductor Integrated Circuits )

박은화 ,  조계철 ,  김상국 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

반도체 집적회로의 고장 가능성에 기초한 테스트 패턴 생성

김상국 ,  박은화 ,  최태용 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

부가선을 이용한 의사 exhaustive 테스터블 PLA 설계

이병양 ,  차용철 ,  이광훈 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

부가선을 이용한 의사 exhaustive 테스터블 PLA 설계 ( Pseudo Exhaustive Testable PLA Design using the Extra lines )

이병양 ,  차용철 ,  이광훈 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

회로 분할에 의한 대규모 순차회로의 테스트 생성 ( Test Generation for large Scale Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )

최호용 ,  정용군

한국통신학회 학술대회논문집

1997 .01

동기식 순서논리회로의 자동시험패턴생성 ( Automatic Test Pattern Generation of Synchronous Sequential Circuit )

안광선 ,  김명수 ,  박세명

특정연구 결과 발표회 논문집

1989 .01

동기식 순서논리회로의 자동시험패턴생성 ( Automatic Test Pattern Generation of Synchronous Sequential Circuit )

안광선 ,  김명수 ,  박세명

한국통신학회 학술대회논문집

1989 .01

내장 자가 검사 회로의 설계

김규철 ,  노철균

대한전자공학회 학술대회

1999 .06

디지털 시스템의 Net-list를 이용한 안전-전체검사에 관한 연구 ( A Study on the Pseudo-Exhaustive Testing Using a Net-List of Digital Systems . )

이강현 ,  김용득

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

디지탈 논리회로에 대한 효율적인 테스트 패턴 생성 알고리듬 ( An Efficient Test Generation Algorithm for Digital Logic Circuits )

김윤홍 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1991 .02