Deep-submicrometer MOSFET의 유효채널 길이 유출 방법에 관한 연구 ( A new method to extract the effective channel length and the velocity saturated region length of a deep-submicrometer MOSFET )

이창진 ,  홍신남

한국통신학회 학술대회논문집

1992 .01

Hot Carrier Effects in Extreme Submicrometer CMOS

Jong Tae Pa ,  k ,  Dae Nam Ha 외 5명

Journal of Electrical Engineering and information Science

1998 .08

Hot Carrier Effects in the Deep Submicrometer SC-PMOSFET

장성준 ,  김형기 ,  김용택 외 4명

대한전자공학회 학술대회

1996 .01

Deep-submicrometer MOSFET의 유효채널길이 抽出 方法에 關한 硏究

이창진 ,  홍신남

한국통신학회 학술대회논문집

1992 .11

Deep Submicrometer PMOSFET의 Hot Carrier 현상과 소자 노쇠화 ( Hot Carrier Effects and Device Degradation in Deep Submicrometer PMOSFET )

장성준 ,  김용탁 ,  유종근 외 3명

전자공학회논문지-A

1996 .04

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Threshold Voltage due to Stress and Temperature with Hot Carrier Effects for Short Channel LDD n-MOSFETs

Seog Ju Oh

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1994 .01

N-Channel MOSFET에 있어서 Threshold Voltage의 특성 ( Characteristics of the Threshold Voltage in a N-Channel MOSFET )

유종선 ,  강진영 ,  이만구 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1982 .01

저전압에서 Deep Submicrometer NMOSFET의 소자 열화 ( Degradation of Deep Submicrometer NMOSFET At Low Voltage )

장성준 ,  하대남 ,  김동욱 외 4명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

저전압에서 Deep Submicrometer NMOSFET의 소자 열화

장성준 ,  하대남 ,  김동욱 외 4명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

좁은 폭을 가지는 MOSFET에 대한 Threshold 전압의 모델링 ( Threshold Voltage Modeling of Narrow Width MOSFET`s )

김여환 ,  유종선 ,  김보우

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

Hot-carrier 효과로 인한 MOSFET의 성능저하 및 동작수명 측정 ( Hot-carrier Induced MOSFET Degradation and its Lifetime Measurement )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

전자공학회논문지

1988 .02

Hot Carrier Effects in Extreme Submicrometer CMOS

Jong Tae Pa ,  k ,  Dae Nam Ha 외 5명

Journal of Electrical Engineering and Information Science

1998 .08

이온 주입한 MOSFET에 대한 Threshold 전압의 모델링 MOSFET의 제작 및 평가 ( Threshold Voltage Modeling of Ion-Implanted MOSFET`s )

유종선 ,  김여환 ,  김보우

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

이온 주입한 MOSFET에 대한 Threshold 전압의 모델링 ( Threshold Voltage Modeling of Ion-Implanted MOSFET`s )

유종선 ,  김여환 ,  김보우

전자공학회지

1985 .01

동작-스트레스에 의한 P-Mosfet에서 핫-캐리어 효과 ( Hot-Carrier Effects in P-MOSFET's by on-Stress )

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .01

동작-스트레스에 의한 p-MOSFET에서 핫-캐리어 효과

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .07

Hot carrier에 의한 GAA MOSFET의 열화현상

최락종 ,  이병진 ,  장성준 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

Deep Submicrometer 표면 채널형 PMOSFET의 단채널 특성 ( The Characteristics of Short Channel Effect in Deep Submicrometer Surface-Channel PMOSFETs )

이재기 ,  홍성희

한국통신학회 전문대학 논문지

1996 .01