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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2024.6
- 수록면
- 260 - 265 (6page)
- DOI
- 10.5762/KAIS.2024.25.6.260
이용수
초록· 키워드
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생산공정에서 불량 판정을 위해 자주 사용되고 있는 PMP 삼차원 형상 측정기는 측정 시 카메라가 받는 광량이 부족할 경우 격자 패턴의 신호가 약화 되어 삼차원 형상 측정값에 잡음이 증가할 수 있다. 카메라로 들어오는 광량은 노출 시간을 조절하거나 렌즈의 조리개를 여닫는 것으로 조절할 수 있지만, 이때 노출 시간이 길어지면 카메라로 이미지를 획득하는 시간이 길어져 측정 속도가 느려지는 문제가 있고 조리개는 촬영 이미지의 콘트라스트와 연관되어 있어 조절이 쉽지 않다. 그러므로 효율적인 광량 조절을 위해 콘트라스트 수치에 따라 화이트 노이즈가 얼마나 발생하는지 예측할 필요가 있다. 본 논문에서는 1951 USAF resolution test chart를 촬영하여 콘트라스트를 정량화하는 MTF값을 계산하였고, PMP 3D Scanner로 평면을 측정한 후 측정 결과에서 나온 화이트 노이즈 강도를 SNR, RMS 그리고 TV값으로 계산하여 MTF와 화이트 노이즈의 관계식을 구하였다. 이 관계식을 이용하여 3D Scanner의 설계 단계에서 MTF 값을 활용하여 화이트 노이즈를 예측할 수 있게 되었다.
목차
요약
Abstract
1. 서론
2. 본론
3. 결론
References
참고문헌 (14)
참고문헌 신청
C. H. Han, S. J. Lee, C. G. Park, J. Y. Lee, Y. K. Ryu, “2D/3D Visual Optical Inspection System for Quad Chip”, Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society, Vol.17, No.1-4, pp.684-692, January 2016. DOI: https://doi.org/10.5762/KAIS.2016.17.1.684
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