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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
고병은 (고려대학교) 김성범 (고려대학교)
저널정보
대한산업공학회 대한산업공학회지 대한산업공학회지 제49권 제2호
발행연도
2023.4
수록면
157 - 166 (10page)
DOI
10.7232/JKIIE.2023.49.2.157

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

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Demand for camera modules is rapidly increasing due to the development of smart phones and vision recognition technology. The importance of the camera module inspection process is also rising. Because the camera is a highly intensive optical device, it generates a lot of noises and causes many false positives, making lower reliability of the inspection result. Therefore, it is necessary to detect and take action early to avoid false positives in the inspection process. In addition, the inspection process data are hard to analyze because they are censored. In this study, we propose a self-supervised learning method based on subset structure and mask estimator that can effectively accommodate the inspection process data. We demonstrate the effectiveness and usefulness of the proposed method by using actual camera resolution inspection process data and MNIST data.

목차

1. 서론
2. 배경 이론
3. 제안 방법론
4. 실험 결과
5. 결론
참고문헌

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