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저자정보
M. Khaouani (University Aboubek Belkaid) H. Bencherif (University of Batna 2) A. Hamdoune (University Aboubek Belkaid) A. Belarbi (Algeria Space Agency) Z. Kourdi (Algeria Space Agency)
저널정보
한국전기전자재료학회 Transactions on Electrical and Electronic Materials Transactions on Electrical and Electronic Materials 제22권 제4호
발행연도
2021.8
수록면
459 - 466 (8page)
DOI
https://doi.org/10.1007/s42341-020-00250-8

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In this paper, we performed a Pseudo-morphic High Electron Mobility Transistors (pHEMT) In0.3 Al0.7 As/InAs/InSb/In0.3 Al0.7 using Silvaco-TCAD. RF and analog electrical characteristics are assessed under high temperature eff ect. The impact of the temperature is evaluated referring to a device at room temperature. In particular, the threshold voltage ( V th ), transconductance ( g m ), and I on / I off ratio are calculated in the temperature range of 300 K to 700 K. The primary device exhibits a drain current of 950 mA, a threshold voltage of ?1.75 V, a high value of transconductance g m of 650 mS/mm, I on / I off ratio of 1 × 10 6 , a transition frequency ( f t ) of 790 GHz, and a maximum frequency ( f max ) of 1.4 THZ. The achieved results show that increasing temperature act to decrease current, reduce g m , and I on / I off ratio. In more detail high temperature causes a phonon scattering mechanism happening that determine in turn a reduced drain current and shift positively the threshold voltage resulting in hindering the device DC/AC capability.

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