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저자정보
최준혁 (한국원자력연구원) 조인환 (한국원자력연구원 중성자응용기술부) 김찬중 (한국원자력연구원) 전병혁 (한국원자력연구원)
저널정보
한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제30권 제1호
발행연도
2017.1
수록면
54 - 58 (5page)
DOI
http://dx.doi.org/10.4313/JKEM.2017.30.1.54

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전자빔 조사와 조사시간의 변화(30, 180, 300초)가 낮은 온도 (250oC)에서의 열처리된 ZnO 박막에 미치는 화학적, 전기적 영향을 분석하기 위해 sol-gel법을 이용하여 ZnO 박막을 준비하였다. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)를 이용해 박막의 화학적 특성을 분석한 결과 전자빔 조사 시간이 증가할수록 ZnO 박막 내부의 M-O 결합이 감소하고 OH- 결합이 증가하는 경향을 확인할 수 있었다. 또한 전자빔 조사시간 증가 시 on/off비는 약 약 105 정도로 변화가 없었으나, 문턱전압이 11 V에서 1 V로 이동하였고, 문턱전압 이하 기울기 값은 1.03 V/dec에서 3.69 V/dec로 변화하였다. 이러한 결과는 400oC에서 열처리한 ZnO의 전기적 특성보다 우수한 값이었다.

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