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저자정보
조성민 (한국해양대학교) 최정훈 (한국해양대학교) 최성국 (한국해양대학교) 조영지 (한국해양대학교) 이석환 (한국해양대학교) 장지호 (한국해양대학교)
저널정보
한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제30권 제1호
발행연도
2017.1
수록면
1 - 6 (6page)
DOI
http://dx.doi.org/10.4313/JKEM.2017.30.1.1

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본 연구는 Si 기판 위에 GaN 성장을 위한 새로운 버퍼층으로 탄화텅스텐(WC)을 제안하였다. 우선 우리는 WC를 Si 기판상에 성막하기 위한 스퍼터링 조건을 조사하고 최적화 하였다. 우리는 성막된 WC를 이용하여 Si melt-back 현상의 억제 여부를 확인하였다. 또한 GaN 성장을 위한 버퍼층으로서의 가능성을 확인하기 위하여 표면에너지를 측정한 결과 사파이어 기판 (γ=82.71 mJ/cm2)과 유사한 표면에너지를 (γ=82.46 mJ/cm2) 갖고 있음을 확인하였으며, 저온버퍼를 이용한 질화물 결정성장에 이용 가능함을 알 수 있었다. 실제로 gas-source MBE와 GaN 저온 버퍼를 사용한 결정성장법을 이용하여 단결정 GaN 박막 성장이 가능한 것을 확인 할 수 있었다.

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