웨이퍼 맵 패턴 분석을 위한 삼중항 손실 기반 비지도 표현 학습

강현구 ,  강석호

한국정보과학회 학술발표논문집

2021 .06

Probe test 검사 항목 간 관계를 고려한 웨이퍼 빈 맵 불량 유형 별 결측값 대체 방법 개발

김주영 ,  최승현 ,  김광재

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2021 .11

딥러닝을 활용한 반도체 웨이퍼 불량 유형 구분 모델에 관한 연구

백선재 ,  이민혁

한국통신학회 학술대회논문집

2022 .02

관측치 간 공간적 유사성과 변수의 상관관계를 고려한 반도체 웨이퍼 테스트 데이터의 결측치 대체 방법 개발

김주영 ,  김광재

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2022 .11

반도체 공간적 특성을 고려한 웨이퍼 테스트 데이터의 언더샘플링 방법 개발: 잠재 불량 분류 모델 개발사례 연구

배영목 ,  김광재

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2023 .05

자가 지도학습을 이용하여 데이터 불균형을 고려한 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 클러스터링 방법 연구

최이수 ,  김병훈

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2022 .06

로그 형식에 강건한 머신 러닝 기반 시스템 로그 이상 상태 탐지

이정훈 ,  김형석 ,  김동화 외 2명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2019 .11

반도체 웨이퍼의 표면 불량을 자동적으로 분류하는 CycleGAN 기반 방법

전세준 ,  김창욱 ,  이석형 외 1명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2018 .04

머신 러닝 소개

김동권

설비저널

2019 .10

다양한 크기의 웨이퍼 맵 불량 감지를 위한 합성곱 신경망 - 전역 평균 풀링 기반 방법

서민경 ,  김창욱

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2019 .04

머신러닝 기반 방향탐지 알고리즘 성능 개선 연구

박현우 ,  김선우

한국통신학회 학술대회논문집

2023 .02

머신러닝 기반 박막 블리스크 가공 공정 이상탐지

권순찬 ,  김동일 ,  박경희 외 2명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2017 .11

Automated System for Cleaning Semiconductor Wafer

So-Young Kwon ,  Young-Hyung Kim ,  Jong-Ik Pa 외 3명

한국정보기술학회논문지

2024 .09

실시간 불량 탐지를 통한 공정 이상 상태 파악

김연수 ,  임용준 ,  Thi Thu Huyen-Vu 외 1명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2023 .05

반도체 웨이퍼 제조 공정에서 품질과 생산성을 고려한 웨이퍼 할당 방법

이동희 ,  이창호 ,  최승현 외 2명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2018 .11

정규화 정도가 다른 컨볼루션 뉴럴 네트워크 조합을 이용한 웨이퍼 빈 맵 다중 불량 패턴 검출

백승호

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2020 .11

밭 토양에서 퇴비와 복합비료 사용에 따른 암모니아 배출 특성

이연진 ,  임은채 ,  홍성창 외 1명

대한환경공학회지

2023 .09

머신러닝 기법을 이용한 분류 : Convolutional Neural Network을 활용한 제품검사 장비 이미지 불량

김민재 ,  이채교 ,  소민섭 외 1명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2018 .04

제조데이터 기반 머신비전 불량 판정 인공지능

서한석 ,  최민서 ,  박윤식 외 1명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2021 .06

딥러닝 알고리즘을 이용한 머신 비전 기반 불량 검출 연구

김대현 ,  부승빈 ,  홍현철 외 2명

비파괴검사학회지

2020 .02