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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
이한주 (제주대학교)
저널정보
한국물리학회 새물리 새물리 제72권 제1호
발행연도
2022.1
수록면
25 - 32 (8page)

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Thermo-elastic optical indicator microscope (TEOIM) 기술은 CCD 카메라를 기반으로 한 광학 현미경으로 마이크로파의 전자기장 분포를 광학적 분해능으로 실시간 측정이 가능하기 때문에, 물질의 전자기적인 특성을 비파괴/비접촉 방식으로 검출할 수 있는 기술로 활용될 수 있다. 그러나 기존 TEOIM 기술은 편광 조절 소자와 렌즈의 크기에 의해 field of view 가 제한되는 단점이 있어 대면적의 시료를 측정하는데 한계가 있다. 본 연구에서는 TEOIM의 field of view를 면 광원과 원 편광 필름을 사용하여 증가시킬 수 있는 방법을 제시하였다. 실험 결과로부터 본 기술이 기존 기술과는 달리 입사광의 편광 상태를 변화시키지 않고 indicator에 나타나는 마이크로파 분포를 측정할 수 있으며, 지름 20cm의 원형 면 광원과 편광필름을 사용하여 최대 10 cm의 길이를 갖는 정사각형 영역의 마이크로파 분포를 영상화 할 수 있음을 확인하였다. 연구결과로부터 본 기술이 디스플레이 기판과 같은 대면적 재료 물질의 전자기적 결함을 큰 field of view를 갖고 빠른 시간안에 측정할 수 있는 중요한 비파괴 시험조사 기술로 활용될 수 있음을 보였다.
#Microwave #NDT& #E #Microwave near-field microscopy #마이크로파 #비파괴시험 #마이크로파 근접장 #현미경

목차

I. 서론
II. 이론 및 실험방법
III. 실험결과
IV. 결론
REFERENCES

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