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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Shewangzaw Hamelo (Jeju National University) Hanju Lee (Jeju National University)
저널정보
한국물리학회 새물리 새물리 제72권 제1호
발행연도
2022.1
수록면
19 - 24 (6page)

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Thermoelastic optical indicator microscopy (TEOIM) is an optical technique that uses optical indicators to visualize the distribution of microwave electromagnetic fields. The measurement sensitivity of TEOIM is determined using the optical indicator that converts the microwave electromagnetic field into an optical signal; hence, improving the physical properties of the optical indicator is important for enhancing the measurement sensitivity of TEOIM. Herein, the optimal thickness of metal thin films is investigated for optical indicators for microwave magnetic-field distribution imaging. Optical indicators are fabricated by coating aluminum thin films with different thicknesses on a glass substrate, and their microwave magnetic-field measurement sensitivity is analyzed. Experimental results show that the electrical resistance of the film increased with decreasing thickness of the aluminum thin film, thereby increasing the microwave magnetic heating of the film and enhancing the measurement sensitivity of the optical indicator.
#Microwave #NDT& #E #Microwave near-field microscopy

목차

I. INTRODUCTION
II. EXPERIMENT AND METHOD
III. RESULTS AND ANALYSIS
IV. CONCLUSION
REFERENCES

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