Explainable wafer bin map classification via hierarchical attention networks

이창현 ,  도형록 ,  김성범

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2019 .11

Wafer Bin Map 분류를 위한 성능 향상을 위한 데이터 증강 방법 연구

박상우 ,  유철우

한국통신학회 학술대회논문집

2022 .06

공간 차원 기반의 wafer bin map 불량 패턴 분류체계 개발

최승현 ,  김은수 ,  이동희 외 4명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2020 .11

Wafer Bin Map 데이터 기반의 불량 탐지 및 시각화를 위한 Bin2Vec 기반의 합성곱 신경망 분류기

김준홍 ,  김형석 ,  박재선 외 2명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2017 .11

딥러닝을 이용한 웨이퍼 빈 맵 신규 패턴 탐지

백승호 ,  김성범

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2019 .11

Go To Bin Project

이준협 ,  최동명 ,  김혁기 외 3명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2015 .11

반도체 공정에서의 Wafer Map Image 분석 방법론

유영지 ,  안대웅 ,  박승환 외 1명

대한산업공학회지

2015 .06

웨이퍼 품질 분류를 위한 결함 맵 노이즈 제거 알고리즘 개발

이석희 ,  이상원

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2024 .12

합성곱 신경망을 이용한 웨이퍼 맵 기반 불량 탐지

박재선 ,  김준홍 ,  김형석 외 2명

대한산업공학회지

2018 .08

Wafer Map defects patterns classification using neural networks

김희영 ,  경기룡

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2017 .04

회전 합 이미지 특질 결합 방법론을 활용한 웨이퍼 맵 불량 패턴 분류

변윤선 ,  백준걸

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2020 .11

비지도 사전학습 기반 액티브 러닝을 활용한 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 분류

황성진 ,  김성범

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2022 .06

DCM: 단안 카메라를 이용한 싱글 이미지에서 정교한 깊이 추정을 위한 Bins 최적화 모듈

이창엽 ,  김동주 ,  서영주 외 1명

전자공학회논문지

2024 .10

Convolutional autoencoder와 Isolation forest 기법을 활용한 장-단기 Wafer Bin Map 이상치 탐지 모니터링 시스템

김준홍 ,  김동화 ,  손규빈 외 1명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2018 .11

불확실성 인지 주의집중 메카니즘 기반 설명가능 인공지능

허자욱 ,  이해범 ,  박준현 외 3명

정보과학회지

2019 .07

BIN 데이터 기반의 냉난방 시스템 용량 설계에 관한 연구

강은철 ,  이광섭 ,  이의준

대한기계학회 춘추학술대회

2017 .05

CAM과 Grad-CAM 기반의 불량 웨이퍼 bin map 분류 및 원인 지역 시각화 방법론

Junhong Kim ,  Jaesun Pa ,  k 외 4명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2018 .04

Wafer Map Failure Pattern Classification using Geometrical Transformation Invariant Convolutional Neural Network

Il Joo Jeong ,  Seungchul Lee

대한기계학회 춘추학술대회

2021 .04

Wafer Center Alignment System for Wafer Transfer Robot based on Reduced Number of Sensors

H. Kim

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2022 .10

WAFER PROCESS 실시간 모니터링 시스템에 관한 연구

김효남

한국컴퓨터정보학회 학술발표논문집

2015 .01