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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2021.6
- 수록면
- 158 - 158 (1page)
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The present work is concerned with the effects of alloying elements on growth behavior of anodic aluminum oxide (AAO) films and dielectric breakdown property of the AAO films on various aluminum alloys. The AAO films were formed on pure Al, AA1050, AA2024, AA5052, AA6061 and AA7075 at 40 mA/cm<sup>2</sup> and 15±0.5 ℃ in 6 wt.% oxalic acid (OA) solution. The growth behavior of AAO films was investigated by comparing the magnitude and changes of anodic film formation voltage with time during anodizing and compositional, morpho logical and structural characteristics of the anodic films were studied using digital camera, field emission scanning electron microscope (FE-SEM), energy dispersive spectroscopy (EDS) and X-ray diffraction (XRD). The growth rate (GR) of the AAO film on pure Al was found to be much higher than that on other alloys with the descending order GR<sub>pure Al</sub> > GR<SUB>A ... 전체 초록 보기
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