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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
양성현 (광운대학교 전자공학부)
저널정보
한국컴퓨터산업교육학회 컴퓨터산업학회논문지 컴퓨터산업학회논문지 제6권 제2호
발행연도
2005.1
수록면
295 - 304 (10page)

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본 논문에서는 워드지향 메모리 내에서 셀 사이의 커플링 결함을 검출하기 위한 고갈 테스트 발생(exhaustive test generation) 문제를 연구하였다. 셀 사이의 거플링 결함 모델에 따르면 n 워드를 갖는 메모리 내에서 w-비트 메모리 내용 또는 내용의 변화는 메모리 내의 s-1 워드 내용에 따라 영향을 받는다. 이때 검사 패턴 구성을 위한 최적의 상호작용 방법을 제안 하였으며, 제안한 검사 결과의 체계적인 구조는 간단한 BIST로 구현하였다.
#Memory testing #word-oriented memory #pattern sensitive faults #pseudo-exhaustive momory testing

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