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자료유형
학술저널
저자정보
Dizon, John Ryan C. (Bataan Peninsula State University) Shin, Hyung-Seop (School of Mechanical Engineering, Andong National University) Ko, Rock-Kil (Korea Electrotechnology Research Institute) Ha, Dong-Woo (Korea Electrotechnology Research Institute) Oh, Sang-Soo (Korea Electrotechnology Research Institute)
저널정보
한국초전도저온학회 한국초전도·저온공학회논문지 한국초전도·저온공학회논문지 제10권 제4호
발행연도
2008.1
수록면
9 - 12 (4page)

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The residual stress induced in the superconducting layer was estimated using analytical approach coupled with electro-mechanical test results and XRD measurements. The residual stress measured based on the $I_{c}/I_{c0}$-strain degradation behavior showed similar value with the measured residual stress using XRD. The calculated residual stress based on the thermal analysis showed the lowest value. This could be explained by the additional intrinsic residual stresses induced in the superconducting film during deposition.

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