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자료유형
학술대회자료
저자정보
Kimura, Munehiro (Dept. of Electrical Engineering, Nagaoka University of Technology) Hasegawa, G. (Dept. of Electrical Engineering, Nagaoka University of Technology) Sakamoto, H. (Dept. of Electrical Engineering, Nagaoka University of Technology) Akahane, T. (Dept. of Electrical Engineering, Nagaoka University of Technology)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2006년도 6th International Meeting on Information Display
발행연도
2006.1
수록면
1,715 - 1,718 (4page)

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Evaluating method of the device parameters of liquid crystal display (LCD) by means of the renormalized transmission spectroscopic ellipsometry is demonstrated. Dielectric and elastic constant, threshold voltage, pretilt angle, cell gap and Anchoring strength coefficients can be evaluated from the measurement of ellipsometric parameters measured by the symmetrically oblique incidence transmission ellipsometry (SOITE). Furthermore, rapid evaluating method for rubbed polyimide film is also demonstrated.

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