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Experimental methods to reduce primary electron scattering from air molecules layer in Atmosphere Scanning Electron Microscopy
한국생산제조학회 학술발표대회 논문집
2014 .09
주사 전자 현미경에서 전자빔 프르브 생성을 위한 하드웨어 설계
한국생산제조학회 학술발표대회 논문집
2007 .10
주사 전자 현미경에서 영상 획득에 필요한 구성 요소 구현
한국레이저가공학회지
2009 .01
전자빔을 이용한 중금속이온 (Cr+6) 의 제거
대한환경공학회 학술발표논문집
1999 .04
전자빔이용 형상 측정 및 해석기술
한국정밀공학회 학술발표대회 논문집
2008 .06
A design of Atmospheric Scanning Electron Microscope
한국생산제조학회 학술발표대회 논문집
2016 .10
Reliable and High Spatial Resolution Method to Identify the Number of MoS<sub>2</sub> Layers Using a Scanning Electron Microscopy
한국재료학회지
2017 .01
주사 전자 현미경에서 전자빔 프르브 생성
한국생산제조학회지
2008 .10
SEM에서 수치해석을 통한 이차전자 거동해석 및 검출기의 최적위치 선정
한국정밀공학회 학술발표대회 논문집
2006 .10
The Study on Design of Fine Focusing Lens in an Atmospheric Scanning Electron Microscope
한국생산제조학회 학술발표대회 논문집
2016 .10
전자빔 이미지 자동형상측정 정밀도 향상 연구
한국정밀공학회 학술발표대회 논문집
2009 .06
The Effect of Electron-Electron Scattering on the Electron Transport in Submicron Device
대한전자공학회 학술대회
1997 .01
Scan device development for electron beam finishing instrument
한국생산제조학회 학술발표대회 논문집
2014 .09
주사 전자 현미경에서 전자빔 프르브 생성을 위한 소프트웨어 설계
한국정밀공학회 학술발표대회 논문집
2007 .11
열전자형 주사전자현미경 결상특성의 수치해석
한국생산제조학회 학술발표대회 논문집
2007 .05
주사전자현미경 ( Scanning Electron Microscopy , SEM ) 과 전자 X-ray 를 이용한 고분자소재 분석
고분자 과학과 기술
1996 .02
열전자형 주사전자현미경 결상특성의 수치해석
한국생산제조학회지
2007 .12
주사전자현미경용 전자검출기
한국생산제조학회 학술발표대회 논문집
2004 .04
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