주사 전자 현미경에서 전자빔 프르브 생성을 위한 소프트웨어 설계

임선종 ,  이찬홍

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2007 .11

주사 전자 현미경에서 전자빔 프르브 생성을 위한 하드웨어 설계

임선종 ,  이찬홍

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2007 .10

전자 빔 주사를 이용한 미세 전자소자의 정전 용량 측정방법

김승재 ,  이강민 ,  김동환

대한기계학회 춘추학술대회

2013 .12

Reliable and High Spatial Resolution Method to Identify the Number of MoS₂ Layers Using a Scanning Electron Microscopy

Sha ,  bid ,  e 외 20명

한국재료학회지

2017 .01

Image Noise Reduction Using Structural Mode Shaping for Scanning Electron Microscopy

Mitsu ,  u Hamochi ,  Shinji Wakui

International Journal of Precision Engineering and Manufacturing

2008 .04

주사전자현미경 렌즈의 해석을 통한 최적의 빔 특성 연구

배진호 ,  김동환

대한기계학회 춘추학술대회

2013 .12

주사전자현미경용 전자검출기

이상욱 ,  전종업 ,  한상훈

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2004 .04

주사전자현미경에서의 자동초점에 관한 연구

오세규 ,  양경선 ,  김승재 외 2명

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2010 .04

주사 전자 현미경에서 영상 획득에 필요한 구성 요소 구현

임선종 ,  이찬홍

한국레이저가공학회지

2009 .01

SPM(Scanning Probe Microscopy) 기술을 이용한 고분자 재료 분석

유경희 ,  신현정

고분자 과학과 기술

2007 .12

Experimental methods to reduce primary electron scattering from air molecules layer in Atmosphere Scanning Electron Microscopy

Seung-Jae Kim ,  Man-Jin Pa ,  k 외 1명

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2014 .09

Scanning Probe Microscopy of Polymer Materials

K . J . Ihn ,  J . A . N . Zasadzinski

고분자 과학과 기술

1992 .03

CD-SEM 진동 및 자기장에 관한 연구 : Vibration 및 Magnetic Fields 가 Scanning Electron Microscopy 의 측정 Patterning 에 미치는 영향에관한 연구

안성현 ,  정호형

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2014 .05

전자현미경 제어기의 스캔드라이버의 성능향상 방안

김동환 ,  김승재 ,  박만진 외 2명

대한기계학회 춘추학술대회

2008 .06

대기압 주사전자현미경을 위한 He과 Air에서의 전자빔 분석

한지희 ,  송규 ,  김승재 외 1명

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2016 .11

전자빔 가공기의 제어기 구성

임선종 ,  강재훈 ,  이찬홍

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2005 .06

수치해석을 사용한 주사전자현미경 전자광학계의 광선추적

정현우 ,  박만진 ,  박근 외 2명

대한기계학회 춘추학술대회

2008 .06

열교환 부품용 발열체 형성기술

조남인 ,  김민철

한국반도체장비학회지

2003 .01

전자현미경 기반의 최신 나노분석기술

안재평

대한기계학회 춘추학술대회

2020 .07