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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
김현우 (인하대학교 재료공학부)
저널정보
한국재료학회 한국재료학회 학술발표대회 한국재료학회 2003년도 추계학술발표강연 및 논문개요집
발행연도
2003.1
수록면
160 - 160 (1page)

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This paper describes some of the key issues associated with the patterning of metal electrodes of sub-micron (especially at the critical dimension (CD) of 0.15 $\mu\textrm{m}$) dynamic random access memory (DRAM) devices. Due to reactive ion etching (RIE) lag, the Pt etch rate decreased drastically below the CD of 0.20 $\mu\textrm{m}$ and thus the storage node electrode with the CD of 0.15 $\mu\textrm{m}$ could not be fabricated using the Pt electrodes. Accordingly, we have proposed novel techniques to surmount the above difficulties. The Ru electrode for the stack-type structure is introduced and alternative schemes based on the introduction of the concave-type structure using Pt or Ru as an electrode material are outlined.

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