메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Kim, Kim, G.B. (Department of Metallurgical Engineering, Yonsei University) Yoon, Yoon, D.S. (Department of Metallurgicals Science and Engineering) Baik, Baik, H.K. (Department of Metallurgicals Engineering, Kangwoen National University)
저널정보
한국재료학회 Fabrication and Characterization of Advanced Materials Fabrication and Characterization of Advanced Materials 제2권 제2호
발행연도
1995.1
수록면
857 - 862 (6page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색

초록· 키워드

오류제보하기
The formation mechanism of epitaxial $CoSi_2$film using Co/Ti/Si system have been investigated in terms of the thickness of an intermediate Ti layer and the annealing ambient, which vary the reaction barrier that controls the Co flux. In the case of thin Ti interlayer and annealing in nonreactive ambient(vacuum), the reaction barrier formed Ti interlayer is Ti(O, C) layer. Howeverm, in the presence of driving force of Ti outdiffusion(annealing in nitrogen ambient), the Ti interlayer transforms to the ternary silicide as reaction barrier due to the advanced Ti outdiffusion. These reaction barriers limit the Co flux and lead to the formation of $CoSi_2$ without the formation of an intermediate $Co-silicide(Co_2Si, \;CoSi)$.

목차

등록된 정보가 없습니다.

참고문헌 (0)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0