$P^{+}$Buried Layer 형성시 발생하는 Threading Dislocation 제거기술에 관한 연구

허태훈 ,  장윤택 ,  노재상 외 4명

한국재료학회 학술발표대회

1997 .01

Investigation of the Cause of the Leakage Current in the Fabrication of CMOS Retrograde Well Including a Buried Layer

Tae Hoon Huh ,  Yoon Taek Jang ,  Jae Sang Ro

대한전자공학회 학술대회

1997 .01

A Study on the Defects in the Fabrication of CMOS Retrograde Well Including A Buried Layer Using MeV Ion Implantation

장윤택 ,  허태훈 ,  유승한 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

Investigation of BILLI CMOS Retrograde Well with a Deep Blanket Buried Layer for Latch-Up Robust and High Yield Well Structure

Jong Kwan Kim ,  Seong Hyung Pa ,  k 외 5명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

Dislocations as native nanostructures - electronic properties

Reiche ,  Manf ,  ed 외 12명

Advances in nano research

2014 .01

A study on Vertical Threading Dislocations in GaN substrate as doping elements(Si, O)

권소영 ,  김영수 ,  박완수 외 1명

한국재료학회 학술발표대회

2006 .01

A Dynamic Thread Pool Scheme based on the Learning for a Web Server

DongHyun Kang ,  SeoHee Yoo ,  Sungyong Pa 외 1명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2009 .07

실리콘 결정 내 칼날 전위쌍의 이동에 관한 연구

김성엽 ,  임세영

대한기계학회 춘추학술대회

2006 .11

MINIMUM WALL THICKNESS OF HOLLOW THREADED PARTS IN THREE-DIE COLD THREAD ROLLING

HUIPING QI ,  YONGTANG LI ,  JIANHUA FU 외 1명

기타자료

2008 .10

원자수준 전산모사를 이용한 결정 내 전위의 에너지론 연구

이영민 ,  김성엽 ,  임세영

대한기계학회 춘추학술대회

2005 .05

MeV 이온주입에 의한 $P^{+}$ Buried Layer 형성시 발생하는 결함에 관한 연구

유승한 ,  장윤택 ,  노재상

한국재료학회 학술발표대회

1998 .01

PCB 레이져 각인기를 위한 멀티태스킹 엔진 개발

정경열 ,  전우석 ,  최대석

한국마린엔지니어링학회 학술대회 논문집

2009 .06

소형 내장형 시스템을 위한 단일 스택 멀티 스레드 구현

김용석

한국컴퓨터정보학회논문지

2016 .04

사다리꼴 나사 전조공정의 성형특성 연구

윤덕재 ,  강신준 ,  김응주

한국소성가공학회 학술대회 논문집

2018 .10

전조해석을 이용한 Lead Screw 공정설계

신명수 ,  차성훈 ,  김종봉 외 2명

대한기계학회 춘추학술대회

2009 .11

Principles of CMOS System Design

이문기

한국통신학회 워크샵

1986 .01

Buried-Oxide MOSFET 제작 ( Fabrication of a Buried-Oxide Mosfet )

오춘식 ,  김충기 ,  경종민

대한전자공학회 학술대회

1983 .01

Dislocation dynamics simulation on stability of high dense dislocation structure interacting with coarsening defects

Yamada ,  M. ,  Hasebe 외 5명

Interaction and multiscale mechanics

2008 .01

실리콘 게이트 CMOS 의 제조 및 측정(Ⅱ)

유종선 ,  감광수 ,  김보우

대한전자공학회 학술대회

1983 .11