비정질 실리콘 박막에서 결정상 실리콘의 입자성장에 관한 고분해능 투과전자현미경에 의한 연구 ( A High - Resolution Transmission Electron Microscopy Study of the Grain Growth of the Crystalline Silicon in Amorphous Silicon Thin Films )

김진혁 ,  이정용 ,  남기수

전자공학회논문지-A

1994 .07

Si결정에서의 격자결함의 특성 및 고분해능 투과전자현미경에 의한 격자상

조경익 ,  권오준 ,  강상원

[ETRI] 전자통신동향분석

1989 .12

저 가속전압 고 분해능 투과전자현미경의 이해 및 응용

김승민 ,  황준연

고분자 과학과 기술

2014 .06

레이저 열처리된 비정질 실리콘 박막의 결정화에 관한 고분해능 투과전자현미경에 의한 연구

김진혁 ,  이정용

한국재료학회 학술발표대회

1993 .01

고에너지 이온주입 공정에 의한 유기 결함과 그 감소 대책

김영호 ,  김인수 ,  김창덕 외 2명

대한전기학회 학술대회 논문집

1997 .07

비정질 실리콘 박막의 결정화 현상에 관한 투과전자 현미경에 의한 연구

김진혁 ,  이정용 ,  남기수 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

비정질 실리콘 박막의 결정화 현상에 관한 투과전자현미경에 의한 연구 ( Transmission Electron Microscopy Study on the Crystallization Phenomena of the Amorphous Silicon Thin Films )

김진혁 ,  이정용 ,  남기수 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

분자 동역학을 이용한 점 결함 및 극 저 에너지 실리콘 이온 주입에 관한 연구

Jeong-Won Kang ,  Myung-Sik Son ,  Ki-Ryang Byun 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

분자 동역학을 이용한 점 결함 및 극 저 에너지 실리콘 이온 주입에 관한 연구 ( A Study on the Silicon Point Defects and Ultra-Low Energy Si Ion Implantation using Classical Molecular Dynamics )

Jeong Won Kang ,  Myung Sik Son ,  Ki Ryang Byun 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

ZnS-$In_2S_3$계 화합물의 상전이에 대한 고분해능 투과전자현미경 해석

서원선 ,  이영호 ,  이명현

한국재료학회 학술발표대회

2002 .01

BF+2 이온 주입된 실리콘 시료의 격자손상과 불순물 농도분포에 대한 연구 ( A Study on the Lattice Damages and Impurity Depth Profiles of BF+2 Ion Implanted Silicon )

권상직 ,  백문철 ,  차주연 외 1명

전자공학회논문지

1988 .03

BF⁺₂ 이온주입된 실리콘 시료의 격자손상과 불순물 농도분포에 대한 연구

권상직 ,  백문철 ,  차주연 외 1명

대한전자공학회 워크샵

1988 .04

Mg합금의 투과전자현미경 조직

한창석

열처리공학회지

2009 .01

연성 나노소재의 투과전자현미경 분석

이은지

고분자 과학과 기술

2013 .02

집속이온빔으로 제작한 황사 입자 시편의 투과전자현미경 분석

정기영

한국광물학회지

2013 .01

이온주입에 의한 다결정 실리콘의 고유저항 모델링 ( The Resistivity Modeling of Ion Implanted Polycrystalline Silicon )

박종태 ,  이문기 ,  김봉렬

전자공학회논문지

1986 .05

MeV 이온주입된 실리콘의 열처리시 불순물과 이차결함간의 상호작용

장윤택 ,  노재상

한국재료학회 학술발표대회

1997 .01

국부 셀 격자 결함 모델을 사용한 극 저 에너지 이온 주입에 관한 연구 ( A Study on the Ultra-Low Energy Ion Implantation using Local Cell Damage Accumulation Model )

권오근 ,  강정원 ,  황호정

전자공학회논문지-D

1999 .07