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Ion Beam Lithography for Submicron Structure Fabrication
대한전자공학회 워크샵
1989 .01
Electrical properties and thermal stability of Al/$WN_x$/Ti submicron contact structure
한국반도체및디스플레이장비학회 학술대회
2002 .01
Cross-sectional TEM Specimens Priparation of Precisely Selected Regions of Semiconductor Devices using Focused Ion Beam Milling
한국재료학회지
1993 .01
Cross-sectional TEM Specimens Preparation of Precisely Selected Regions of Semiconductor Devices Using Focused Ion Beam Milling
한국재료학회 학술발표대회
1992 .01
박막 재료의 TEM 시편 준비법
한국재료학회 학술발표대회
1998 .01
SUBMICRON DEVICE RELIABILITY RESEARCH
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1989 .01
Al/TiN/Ti 전극의 Submicron contact에서의 전기적특성(2)
대한전기학회 학술대회 논문집
1995 .07
TiN/TiSi2 이중구조막의 submicron contact에서의 전기적 특성
대한전자공학회 학술대회
1994 .07
AI/TiN/Ti 전극의 Submicron contact에서의 전기적특성(1)
대한전기학회 학술대회 논문집
1995 .07
Submicron 이미지 분석을 이용한 수화물 분석방법
콘크리트학회지
2019 .05
이온빔을 이용한 STS304와 알루미나 브레이징 접합효과
한국산학기술학회 논문지
2015 .12
Submicron 소자를 위한 고속열처리 공정 ( Rapid Thermal Processing for Submicron Devices )
특정연구 결과 발표회 논문집
1988 .01
Submicron 소자를 위한 고속열처리 공정 ( Rapid Thermal Processing for Submicron Devices )
한국통신학회 학술대회논문집
1988 .01
Submicron에서의 소자 기술 동향
전자공학회지
1991 .09
Nano 급 반도체 TEM 시료 제작 시, 미세 Pattern 변형에 대한 연구
한국정밀공학회 학술발표대회 논문집
2013 .05
질화물 반도체의 미세구조 분석을 위한 최적의 TEM 시편 준비법
한국재료학회지
2003 .01
Fabrication of Submicron Sized Josephson Junctions Array in a High-TC Superconductor using Focused Ion Beam
한국정밀공학회 학술발표대회 논문집
2009 .06
γ계수 측정용 Ion-beam 장치의 시작 및 그 특성에 관한 연구
전기학회논문지
1998 .09
이온빔 조사 경로에 따른 집속이온빔 가공공정의 효율평가
한국정밀공학회 학술발표대회 논문집
2011 .06
Deep submicron PMOSFET의 Scaling 방법
대한전자공학회 학술대회
1995 .12
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