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자료유형
학술대회자료
저자정보
Takatori, Kenichi (Research Dept., NEC LCD Technologies, Ltd.) Haga, Hiroshi (Research Dept., NEC LCD Technologies, Ltd.) Nonaka, Yoshihiro (Research Dept., NEC LCD Technologies, Ltd.) Asada, Hideki (Research Dept., NEC LCD Technologies, Ltd.)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2008년도 International Meeting on Information Display
발행연도
2008.1
수록면
914 - 917 (4page)

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A quad-functional built-in test circuit has been developed for DRAM-frame-memory embedded SOG-LCDs. The quad function consists of memory test, display test, serial transfer test, and parallel transfer test which is the normal operation mode for our SOG-LCD. Results of memory and display tests are shown.
#SOG #test circuit #frame memory #multi function

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